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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
縱向缺陷試塊
適用于外徑12-660mm,、壁厚大于或等于2mm的承壓設(shè)備用碳鋼,、低合金無(wú)縫鋼管或外徑為12-400mm、壁厚為2-35mm的承壓設(shè)備用奧氏體不銹鋼無(wú)縫鋼管的超聲檢測(cè),。
產(chǎn)品規(guī)格：
等級(jí) 長(zhǎng)度I 人工缺陷槽深度t I 40 公稱壁厚的5%,，zui小為0.2，zui大為1.2 II 40 公稱壁厚的8%,，zui小為0.2,，zui大為2.0 III 40 公稱壁厚的10%，zui小為0.2,，zui大為3.0
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SBS-3滲透探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 不銹鋼鍍鉻滲透標(biāo)準(zhǔn)試塊 鋁合金滲透對(duì)比試塊 D型磁粉探傷用試片
M1型磁粉檢測(cè)試片 小徑管試塊 階梯試塊 荷蘭試塊 LS-1螺栓試塊 YM-D型滲透試塊（不銹鋼條紋試塊）
YM-B5型滲透試塊（不銹鋼五點(diǎn)試塊） YM-B3型滲透試塊（不銹鋼三點(diǎn)試塊） YM-A型滲透試塊
TD型磁場(chǎng)指示器（八角試塊） E型交流標(biāo)準(zhǔn)試塊（3孔試塊） B型直流標(biāo)準(zhǔn)試塊（12孔試塊）
C型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片 A1型磁粉探傷試片 GB/T18851-II著色滲透試塊 鍍鉻輻射裂紋參考試塊
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波檢測(cè)試塊
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