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產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報警儀/個人計量儀 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評片燈 強(qiáng)度計/特斯拉計/高斯計 數(shù)顯黑白密度計/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉,、磁膏,、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
A1型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片,、C型標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片、
D型磁粉探傷試片,、M1磁探標(biāo)準(zhǔn)片
A1磁粉標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片簡 介：
A型靈敏度試片zui先由日本無損檢測學(xué)會提出,，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷,，在檢查中,，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作,，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能,，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢,，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
特 點(diǎn)：
試片用于磁粉顯示,，圖象直觀,，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時,，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn),。
性能規(guī)格：
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2,；A1為退火材料制成,，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片,，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對應(yīng),。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# （30/100μ）標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片,，規(guī)格為（8-9）D,；適用于中靈敏度探傷，其中括號中分子為槽深,，分母為試片厚度,，單位為（微米），D為工件直徑,。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
A1型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
使用方法：
1,、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片,，將刻有槽的一面朝向工件,，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好,，膠帶紙貼于試片兩邊緣,，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2,、進(jìn)行外加懸場法,，對工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高,，以顯示磁痕為界,，即是磁化電流）。上述步驟完畢后,，貼在工件表面上的試片,，即可清楚顯示磁痕。
注意事項：
1,、試片使用前,，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上,，保證試片與被檢面接觸良好,。
2,、試片用后請涂防銹油。
3,、試片有銹蝕,、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
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