1.將激磁次數(shù)降至Z少,,以提高生產(chǎn)效率
2.確定磁場方向和相對的磁場強(qiáng)度
3.平衡多向磁場
參考價(jià) | ¥890 |
訂貨量 | 1 |
更新時(shí)間:2017-07-12 13:51:43瀏覽次數(shù):2140
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I試片
定量品質(zhì)試片
(I)是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片,,I試片用于
1.將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率
2.確定磁場方向和相對的磁場強(qiáng)度
3.平衡多向磁場
a)標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷呈基圓和十字交叉條形,,適用于縱向和周向磁場
件號:519630 型號:KSC-230
件號:521048 型號:KSC-430
說明:
標(biāo)準(zhǔn)I試片,,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸標(biāo)準(zhǔn)I試片,,缺陷深度為試片厚度的30%,,試片厚度為0.004英寸
b)小型I試片
與KSC-230相似,于工件上的小區(qū)域,,每片四個(gè)圓,,可切割開,單獨(dú)使用
件號:519631
型號:KSC-4-230
說明:小型I試片,,每片試片有4個(gè)基圓,,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸
c)不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業(yè),,缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán)
件號:519632 型號:KSCT-234
說明:不同深度I試片,,缺陷深度分別為試片厚度的20%,30%,,40%,,試片厚度為0.002英寸,試片背面帶膠,,可直接貼在工件上
件號:521049 型號:KSC4-234
不同深度I試片,,缺陷深度分別為試片厚度的20%,30%,,40%試片厚度為0.004英寸