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1.游標(biāo)卡尺,2.千分尺3.微孔測(cè)量?jī)x,4.三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗(yàn),7.*金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.
產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動(dòng)式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏,、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī),、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
型號(hào):CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:（mm）300×150×30
行位公差（國(guó)標(biāo)）:±0.10×0.05×0.05
（⊥）: ⊥＜0.05
（∥） :∥＜0.03
（Ra）: Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
試塊檢測(cè)報(bào)告:
| 超聲波探傷 | |||
| 檢測(cè)儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
| 檢測(cè)部位 | 平面 | 耦合劑 | 機(jī)油 |
| 增益 | 80% | 抑制 | 關(guān) |
| 衰減 | 42db | ||
| 探傷結(jié)果 | 材質(zhì)均勻,無雜質(zhì),無影響使用缺陷. | ||
| 試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999（優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼）標(biāo)準(zhǔn)要求. | |||
| 金相分析:晶粒度7-8級(jí) | |||
備注:校準(zhǔn)（檢驗(yàn)）所用主要計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器
1.游標(biāo)卡尺,2.千分尺3.微孔測(cè)量?jī)x,4.三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗(yàn),7.*金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
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