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產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動(dòng)式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉,、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī),、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
CSK-IA超聲波檢測(cè)試塊技術(shù)參數(shù)：
名稱:標(biāo)準(zhǔn)試塊
型號(hào)規(guī)格:CSK-IA
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730-2005
材質(zhì):45號(hào)鋼
毛坯種類(lèi):鍛打件
熱處理狀態(tài):正火處理。
超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊檢測(cè)報(bào)告
CSK-IA超聲波檢測(cè)試塊
超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊檢測(cè)報(bào)告 | |||
| 1 | 本體材料化學(xué)成分 | 主要化學(xué)成分應(yīng)符合GB699 | 合格 |
| 2 | 本體材料晶粒度 | 本材料經(jīng)正火處理后,，晶粒度應(yīng)達(dá)到7級(jí)以上,。 | 合格 |
| 3 | 本材料內(nèi)部缺陷 | 使用5MHZ直探頭，對(duì)試塊進(jìn)行接觸法超聲波探傷,，不得出現(xiàn)大于對(duì)比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波,。 | 合格 |
| 4 | 折射角度偏差 | 使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測(cè)時(shí),不得超出±2度 | 合格 |
| 5 | 有機(jī)玻璃鑲嵌件縱波傳播時(shí)間 | 長(zhǎng)溫下,有機(jī)玻璃23mm厚度縱波傳播時(shí)間相當(dāng)與20（45）號(hào)鋼50mm厚度的縱波時(shí)間 | 合格 |
| 6 | R100圓弧面中心位置偏差 | 使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測(cè)時(shí),不得超出±0.5mm | 合格 |
| 7 | R100圓弧面回波幅度偏差 | 使用2.5MHZ和 5MHZ的斜探頭檢測(cè)時(shí),不得超出1.5dB | 合格 |
| 8 | 外觀及表面粗糙度 | 外觀光滑無(wú)明顯劃傷,碰傷,銹蝕等缺陷,表面粗糙度探測(cè)面不得低于Ra3.2,其余Ra6.3 | 合格 |
| 9 | 幾何尺寸,行位公差 | 尺寸.公差±0.1 | 合格 |
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