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產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動(dòng)式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線(xiàn)報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線(xiàn)圈退磁器 冷熱觀(guān)片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線(xiàn)探傷耗材 磁粉,、磁膏,、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線(xiàn)燈 紫外線(xiàn)黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
鋁合金PT滲透探傷試塊（亦稱(chēng)鋁合金試塊）用來(lái)比較不同滲透劑的靈敏度 試驗(yàn)或新、舊滲透劑的靈敏度對(duì)比,，該試塊具有A,、B兩面上對(duì)稱(chēng)的缺陷， 可以用不同的滲透劑進(jìn)行比對(duì)試驗(yàn),，或同一種滲透劑在不同的操作方法下,，判別操作的規(guī)范。也可用作滲透劑對(duì)鋁材的腐蝕性檢驗(yàn),。
適應(yīng)范圍：
1. 本試塊適應(yīng)于各種滲透探傷（熒光,，著色）場(chǎng)合，與被探傷材料是否為鋁合金無(wú)關(guān),，是滲透探傷質(zhì)量控制zui常用的一種工具,。
2. 本試塊可用與對(duì)著色探傷劑的靈敏度進(jìn)行對(duì)比實(shí)驗(yàn)。在A(yíng)與B的兩塊試塊的工作表面分別用已確認(rèn)靈敏度符號(hào),，在試塊的側(cè)面有統(tǒng)一的編號(hào),，號(hào)碼*的A和B試塊的缺陷顯示基本是相同且是對(duì)稱(chēng)的，使用時(shí)要求的探傷劑與待用探傷劑按各自規(guī)定程序?qū)嵤?shí)驗(yàn),，將所的顯像與所附參考顯像圖片及A和B試塊兩塊的工作面進(jìn)行對(duì)照,，可以用來(lái)評(píng)價(jià)待用探傷劑的靈敏度。
3. 在A(yíng)試塊和B試塊的工作表面,，將同一種探傷劑分別在室溫和某異常（高,，低）溫度下施用,，對(duì)比所得顯像與參考顯像圖片，可確定此探傷劑在該異常溫度下能否使用,。
4. 本試塊可用于班前校驗(yàn)和隨班檢測(cè),，以確定滲透探傷系統(tǒng)工作狀態(tài)是否正常，也可用以考核滲透探傷人員的操作是否符合要求,。
參考顯像圖片
每塊JB/T6064-A型試塊均附有參考顯像圖片一張,，系由我廠(chǎng)中高級(jí)探傷人員采用中等靈敏度滲透探傷劑對(duì)該試塊實(shí)施檢驗(yàn)所得顯像記錄。在一般滲透探傷場(chǎng)合,，可作為標(biāo)準(zhǔn)顯像照片使用,。
使用注意事項(xiàng)：
1. 重復(fù)使用前，用溶劑清洗,，可用睫毛刷刷洗,，然后干燥待用。
2. 應(yīng)按照所得探傷劑制造廠(chǎng)的使用說(shuō)明書(shū),，在試塊上實(shí)施滲透檢驗(yàn)程序,。
3. 由于使用著色探傷劑進(jìn)行試驗(yàn)后，會(huì)對(duì)熒光滲透探傷劑進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)的熒光顯示有些影響,，因此對(duì)使用熒光和著色探傷劑時(shí),，應(yīng)分別配備兩套本試塊使用。
4. 使用后應(yīng)及時(shí)*清洗,，應(yīng)盡量消除所有滲透探傷劑的痕跡,，然后在丙酮或酒精中進(jìn)行浸泡1-2小時(shí)。使用后清洗是否及時(shí)與*,，直接影響試塊使用壽命,。
5. 試塊不用時(shí)宜置于干燥器或浸泡于*中。
6. 試塊在使用過(guò)程中如發(fā)現(xiàn)顯示缺陷原有特征應(yīng)及時(shí)更換,。
注意事項(xiàng)：請(qǐng)勿敲打試塊,，以免引起缺陷的擴(kuò)展，影響檢測(cè)的對(duì)比性和靈敏度
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