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產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動(dòng)式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏,、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī),、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
C型試塊有三塊,C型試塊的材料采用黃銅板材,，也可采用1Cr18Ni9Ti或Cr17Ni2或類似的不銹鋼板材，其化學(xué)成分應(yīng)符合GB/T5231或GB/T4237的規(guī)定
此套試塊是參考日式鉻鎳靈敏度試片的要求制作,，作為滲透探傷材料,、工藝進(jìn)行校驗(yàn)控制的有效手段，適應(yīng)于一切滲透探傷（熒光,、著色）場(chǎng)合,。
使用：
C型試片鍍鉻面上有三組肉眼不易見的細(xì)微條式裂紋，試片背面標(biāo)有這些裂紋的基本寬度,。C型試片按裂紋寬分為0.5u,1.0u,和1.5u等不同的規(guī)格（裂紋深度分別為10-13u,20-30u,40-50u左右）不同規(guī)格的C型試片分別對(duì)應(yīng)不同的探傷靈敏度,。
在試塊上按一定工藝程序施加某種滲透探傷劑，zui后從試片的裂紋顯像圖案或?qū)⑵渑c標(biāo)準(zhǔn)顯像彩照對(duì)比探傷材料或工藝作出評(píng)價(jià),。
可用成套的C型試片來(lái)幫助選擇具有所需要求靈敏度的擦傷劑,。
要評(píng)估從未使用過(guò)的一種新探傷劑，可將其與一種已了解性能并肯定有效的探傷劑在兩塊同規(guī)格的試塊上進(jìn)行比較,。
可用兩塊同規(guī)格試片對(duì)使用過(guò)程中的探傷劑與其標(biāo)準(zhǔn)原液進(jìn)行比較以確定是否變質(zhì),。
可用成套試片進(jìn)行探傷工藝參選擇試驗(yàn)。
可用于隨班檢驗(yàn)以確定滲透探傷系統(tǒng)工作狀態(tài)和人員是否正常,。
參考顯像圖片：
每塊C型試塊均附有彩色顯像照片一張,，是由我廠II級(jí)探傷人員及探傷工程師采用中高靈敏度探傷劑對(duì)該試片實(shí)施檢驗(yàn)所得顯像的記錄。在一般場(chǎng)合,，可作為標(biāo)準(zhǔn)顯像照片是用。
使用注意事項(xiàng)：
1.試片用后應(yīng)將顯像粉全部沖洗干凈,，用丙酮或酒精擦洗后再這類溶劑中浸泡至少1小時(shí)并干燥待用,。
2.根據(jù)所用探傷劑的使用說(shuō)明在試片上實(shí)施探傷程序。因?yàn)橹絺麆?huì)影響熒光探傷劑的熒光作用,，故對(duì)熒光,、著色探傷應(yīng)分別配備試片。
3.試片不用時(shí)宜浸泡在酒精中或放入干燥器內(nèi),。
4.試塊使用前應(yīng)經(jīng)干燥處理,。
產(chǎn)品規(guī)格：
| C 型試塊編號(hào) | 裂紋深度 µm | 裂紋寬度 µm |
| 1 | 40～50 | 4～5 |
| 2 | 20～30 | 2～3 |
| 3 | 10～13 | 1～1.3 |
符合標(biāo)準(zhǔn)：JB/T6064 ，GB/T23911-2009標(biāo)準(zhǔn)
備注：條紋黃銅鍍鎳鉻試片是滲透探傷系列試片中C型試塊,。依據(jù)JB/T6064-2006標(biāo)準(zhǔn)制作,，2002年12月通過(guò)國(guó)家行業(yè)鑒定。試塊符合JB/T6064-2006和ASME標(biāo)準(zhǔn)要求,。
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