當(dāng)前位置:> 供求商機> HY(IC)-雙邊同時扭的彎扭試驗機
貨物所在地:上海上海市
產(chǎn)地:上海市浦東新區(qū)南蘆公路與馬五公
更新時間:2025-05-15 09:27:55
有效期:2025年5月15日 -- 2026年9月12日
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HY(IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗機技 術(shù) 參 數(shù):
本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲,、扭矩的試驗; *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
外形尺寸:L670 X W380 X H220
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,,總扭曲角度30°
長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為2mm±0.50mm,,
短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為1mm±0.50mm,
夾具安裝尺寸*按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行,。
雙邊同時扭的彎扭試驗機產(chǎn)品用途:
用于檢測磁條卡,,IC芯片卡,集成電路卡,,等卡的彎曲和扭曲性能測試,。
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