三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對卡進(jìn)行三輪測試?？ū环诺綑C(jī)器中,，測試輪將循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次,，芯片后方滾動50次,，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N,。經(jīng)過測試,，檢查芯片情況，芯片應(yīng)該是完好無損且功能正常,。測試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測試,。
HY（SL）三輪測試儀
HY（SL）三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對卡進(jìn)行三輪測試?？ū环诺綑C(jī)器中,，測試輪將循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次,，芯片后方滾動50次,，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N,。經(jīng)過測試,，檢查芯片情況，芯片應(yīng)該是完好無損且功能正常,。測試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測試,。
電源：110-22V 50-60HZ
· 測試標(biāo)準(zhǔn)參考：Mcd
· CQM測試標(biāo)準(zhǔn)參考:P-22
· 測試方法參考：10.3.22
· CQM 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
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