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1166次徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點修塊拋光功能，是用鋸,，磨,，銑削，拋光樣品后,，供掃描電鏡,，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測,。
帶有一體化體視鏡,，用于定位及對較細微難以觀察的目標(biāo)位置進行樣品處理時觀察；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄,，可以改變樣品觀察角度，0°－60°可調(diào)，或者垂直于樣品前表面90°觀察,，可利用目鏡刻度標(biāo)尺測量距離,。
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