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[轉(zhuǎn)載]ASD光譜儀測(cè)量地物光譜的數(shù)據(jù)處理方法及遇到的問(wèn)題
一,、利用ASD光譜儀測(cè)量地物光譜的數(shù)據(jù)處理方法
1.安裝ASD光譜儀配套的光譜數(shù)據(jù)處理軟件ViewSpecPro,;
2.將ASD光譜儀配套筆記本電腦上面的光譜數(shù)據(jù)文件拷貝到本地硬盤,;
3.打開(kāi)ViewSpecPro軟件,,單擊setup->input directory,,光譜數(shù)據(jù)的目錄,。
設(shè)置好輸入目錄后,會(huì)彈出對(duì)話框,,問(wèn)是否將輸出目錄設(shè)置和輸入目錄一直,,這里一般選擇是。
4. 打開(kāi)輸入目錄下的全部光譜數(shù)據(jù),,根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)記錄選擇若干條曲線,,單擊view->graph,便可以顯示選中的光譜數(shù)據(jù)的曲線,。
5. 根據(jù)曲線圖,,刪除有問(wèn)題的曲線,將其他曲線取平均值,。即選中取要用來(lái)取平均值的曲線,,單擊
process->statistics,然后點(diǎn)擊OK,,程序便會(huì)輸出平均值光譜,,并在程序界面中顯示。
6. 選中求好平均值的光譜,,單擊process->Acsii export, 便可以將原來(lái)的二進(jìn)制文件輸入為文本文件,,從而可以利用EXCEL或者其他程序進(jìn)行后續(xù)計(jì)算。
7. 地物反射率=(地物DN值/白板DN值)×白板反射率,。白板反射率是事先通過(guò)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)定標(biāo)得到的,。
更為詳細(xì)的步驟如下:
1.準(zhǔn)備工作
a. 光譜儀、計(jì)算機(jī)充電:光譜儀電量不足時(shí)紅燈閃亮,,充滿電后綠燈亮,;如果黃燈閃亮則說(shuō)明過(guò)熱,需要等待一段時(shí)間,;
b. 安裝適當(dāng)?shù)溺R頭或其他附件(如GPS,、余弦接受器等),并準(zhǔn)備好白板,;
c. 依次打開(kāi)光譜儀電源及計(jì)算機(jī)電源,,并啟動(dòng)相應(yīng)RS3軟件,;
-RS3 用于優(yōu)化FieldSpec儀器以及采集下列數(shù)據(jù): Raw DN、反射率,、輻射亮度/輻射照度
-所有采集的數(shù)據(jù)均為ASD文件格式,,并可以使用ViewSpec Pro軟件打開(kāi)并進(jìn)行后處理
d. 在RS3軟件上選擇相應(yīng)的鏡頭并調(diào)整光譜平均、暗電流平均和白板采集平均次數(shù)(Control/adjust
configuration)
-光譜平均次數(shù)Spectrum average
-暗電流平均次數(shù)Dark current average
-白板平均次數(shù)White reference average
e. 在軟件中選擇或填寫(xiě)需要存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的路徑,、名稱和其他內(nèi)容(Control/spectrum save)
2 光譜測(cè)量過(guò)程
1)反射率測(cè)量過(guò)程
a. 鏡頭對(duì)準(zhǔn)白板,,點(diǎn)擊OPT進(jìn)行優(yōu)化
(注意:白板必須充滿鏡頭視場(chǎng),。工作過(guò)程中特別是開(kāi)始工作的前半個(gè)小時(shí)內(nèi)每隔一定時(shí)間做一次優(yōu)化并且
注意每隔3~5分鐘采集一次暗電流,,測(cè)量暗電流按 DC)。
b. 鏡頭仍然對(duì)準(zhǔn)白板,,點(diǎn)擊WR采集參比光譜,。此時(shí),軟件自動(dòng)進(jìn)入反射率測(cè)量狀態(tài),。
間隔一定時(shí)間即采集白板參比.環(huán)境變化越頻繁,則采集白板次數(shù)越高
c. 鏡頭移向被測(cè)目標(biāo),,按空格鍵存儲(chǔ)采集到的目標(biāo)反射光譜。
2)輻射照度(Irradiance)測(cè)量過(guò)程
a. 鏡頭對(duì)準(zhǔn)天空或者地面,,點(diǎn)擊OPT優(yōu)化儀器參數(shù),;
b. 點(diǎn)擊RAD直接進(jìn)入輻射亮度測(cè)量狀態(tài);
c. 按空格鍵存儲(chǔ)目標(biāo)光譜(或者自動(dòng)存儲(chǔ))
綜上,,在rs3軟件下,,對(duì)于反射比和輻射度測(cè)量,只需要簡(jiǎn)單的進(jìn)行以下步驟即可
反射率測(cè)量:
在照明條件下,,鏡頭對(duì)準(zhǔn)白板,;優(yōu)化(OPT);參比采集命令(WR),。將鏡頭移到測(cè)量目標(biāo)上,,這時(shí),按空格鍵即存儲(chǔ)測(cè)量得到的反射率光譜,。
輻射度測(cè)量:
在照明條件下,,鏡頭對(duì)準(zhǔn)白板(或者被測(cè)目標(biāo));優(yōu)化(OPT),;輻射度測(cè)量命令(RAD),。將鏡頭移到測(cè)量目標(biāo)上,這時(shí),,按空格鍵即存儲(chǔ)測(cè)量得到的輻射度光譜,。
二、測(cè)量操作中可能出現(xiàn)的問(wèn)題及解決
問(wèn)題1,,測(cè)量輻射亮度或者輻射照度時(shí)在光譜連接處出現(xiàn)臺(tái)階跳躍
ASD公司的所有儀器光度標(biāo)定都是在實(shí)驗(yàn)室內(nèi),,儀器經(jīng)過(guò)80-90分鐘預(yù)熱后作出的,。
ASD公司經(jīng)過(guò)大量實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),儀器所使用的三個(gè)傳感器在不同的環(huán)境功能溫度以及預(yù)熱時(shí)間下具有變化的響應(yīng)度,。但是在SWIR1(1000-1800nm)波段傳感器的響應(yīng)度不受影響,。并且,如果儀器經(jīng)過(guò)足夠長(zhǎng)時(shí)間的預(yù)熱,,則這個(gè)問(wèn)題不會(huì)出現(xiàn),。但是野外測(cè)量時(shí)幾乎不可能使用如此長(zhǎng)的預(yù)熱時(shí)間。
于是,,ASD公司開(kāi)發(fā)出了利用SWIR1的穩(wěn)定特性,,對(duì)問(wèn)題數(shù)據(jù)進(jìn)行修正的方法,即拋物線修正(ParabolicCorrection),。
解決方法:
A. 儀器經(jīng)過(guò)足夠長(zhǎng)時(shí)間的預(yù)熱,;這是zui可靠的方法。
B. 或者在測(cè)量輻射度時(shí)點(diǎn)擊RS3軟件界面上的PC圖標(biāo),。
C. 回到實(shí)驗(yàn)室后,,使用ViewSpec軟件中的拋物線修正功能對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行修正。
問(wèn)題2,,測(cè)量反射率時(shí)在光譜連接處出現(xiàn)于上述類似的問(wèn)題
出現(xiàn)這樣的光譜連接點(diǎn)跳躍的原因是不同的光纖采集到不同位置的樣品光譜,。
由于光纖輸入端口是由57條光纖構(gòu)成的,在某些部位可能會(huì)出現(xiàn)上述問(wèn)題,,特別是測(cè)量距離比較小的時(shí)候,。
這個(gè)問(wèn)題不會(huì)影響所采集到的數(shù)據(jù)質(zhì)量。
解決方法:
A. 稍微旋轉(zhuǎn)光纖,,能夠看到連接點(diǎn)的跳躍消失,;或者
B. 回到實(shí)驗(yàn)室后,使用ViewSpec軟件中的Splice Correction修正功能對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行修正,。
問(wèn)題3:不能通過(guò)OPT快捷鍵對(duì)儀器進(jìn)行優(yōu)化
通常這是由于電池供電不足造成的,。
儀器優(yōu)化過(guò)程中需要啟動(dòng)電子快門。這是一個(gè)耗電相對(duì)較大的動(dòng)作,。如果電池不足,,比如,儀器界面的電量顯示已經(jīng)到達(dá)黃線,。盡管仍然可以采集光譜,,但是電子快門不動(dòng)作。因此,,無(wú)法完成優(yōu)化,。
只需要更換電池即可解決此問(wèn)題。
問(wèn)題4:近紫外到近紅外(350-1000nm)波段沒(méi)有信號(hào)或者信號(hào)很弱
電子快門的設(shè)置有利于及時(shí)減除暗電流提高數(shù)據(jù)的信噪比,。但是,,此部件在動(dòng)作的時(shí)候耗電量相對(duì)較大,。因此,即使在電池仍然有電(但是供電不足)的情況下會(huì)發(fā)現(xiàn)可以采集光譜數(shù)據(jù)但是卻不能進(jìn)行優(yōu)化或者采集暗電流,。
另外一個(gè)原因就是電子快門硬件損壞,。
解決方法:
A. 更換電池或者改用市電供電。若仍然不能解決,,則
B. 與供貨商維修,。
三、使用中出現(xiàn)的問(wèn)題和解決方法
可能出現(xiàn)的問(wèn)題包括:
輻射度測(cè)量時(shí)
沒(méi)有選擇經(jīng)過(guò)定標(biāo)的鏡頭,;
優(yōu)化時(shí),,白板或者目標(biāo)沒(méi)有*覆蓋鏡頭的視場(chǎng);
照明條件極大改變后沒(méi)有重新優(yōu)化,;
預(yù)熱時(shí)間短,,沒(méi)有比較頻繁地采集暗電流。
反射率測(cè)量時(shí)
優(yōu)化和采集白板參比時(shí),,白板沒(méi)有*覆蓋鏡頭的視場(chǎng);
照明條件極大改變后沒(méi)有重新優(yōu)化,;
經(jīng)過(guò)較長(zhǎng)時(shí)間后沒(méi)有重新采集白板參比,。
1. 預(yù)熱時(shí)間
對(duì)于光譜反射率測(cè)量,儀器預(yù)熱10分鐘就足夠了,。需要注意的是,,如果是輻射度測(cè)量,那么預(yù)熱的時(shí)間應(yīng)盡可能長(zhǎng)一些,,推薦的預(yù)熱60分鐘左右,。
2. 附件的選取與安裝
根據(jù)不同的測(cè)量目的選取必要的附件。下面幾個(gè)問(wèn)題需要特別引起注意:
A. 選擇附件后,,需要在RS3軟件的相應(yīng)為位置指明所選取的附件,,以便于RS3軟件自動(dòng)調(diào)用存儲(chǔ)的定標(biāo)數(shù)據(jù)并將附件信息記錄在光譜數(shù)據(jù)中;
B. 附件的安裝不需要十分用力,,僅僅需要確認(rèn)已經(jīng)安裝牢固即可,;
3. 鏡頭視場(chǎng)大小的計(jì)算 (PS:具體示意圖見(jiàn)原文鏈接)
所有技術(shù)指標(biāo)中給出的視場(chǎng)角都是全角。
a.垂直測(cè)量
近場(chǎng)測(cè)量(距離短于1米): Y = D + 2 * X * Tan(A/2)
遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量(距離大于1米): Y = 2 * X * Tan(A/2)
b.傾斜測(cè)量
arctan(y/x) = a = (全視場(chǎng)角)/2
y/x = tan a ,, y = x tan a
z + w = h tan (b + a),, w = [h tan (b + a)] – z, w = h tan b
得到:
z = h [tan(b)+ tan(b + a)]
w = (x2 + h2 - 2xh cosb)1/2
其他經(jīng)驗(yàn)設(shè)置及注意事項(xiàng)(供參考):
1,,測(cè)量時(shí)間
如果所采集的光譜數(shù)據(jù)將要用于搞光譜圖像的數(shù)據(jù)定標(biāo)或者解疑,,那么光譜數(shù)據(jù)的采集時(shí)間就非常重要了。在此條件下,,應(yīng)當(dāng)使用與得到遙感圖像時(shí)的照明條件近似的照明采集反射光譜數(shù)據(jù),。建議在衛(wèi)星過(guò)境或者機(jī)載傳感器采集數(shù)據(jù)的同時(shí)采集反射光譜數(shù)據(jù),。
如果采集時(shí)間差別很大,則建議使用大氣輻射訂正,。
通常情況下,,在10:00 – 14:00之間總是會(huì)得到相對(duì)較好的照明條件。
當(dāng)然,,根據(jù)研究或者工程目標(biāo)選擇光譜采集時(shí)間也是考慮的重點(diǎn)之一,。
2,相對(duì)幾何位置
根據(jù)采集光譜的目的選擇適當(dāng)?shù)挠^測(cè)幾何位置,。
圖像解譯: 選擇與衛(wèi)星或者機(jī)載傳感器采集圖像時(shí)相似的幾何觀測(cè)條件,。
可行性研究:通過(guò)固定觀測(cè)角度和照明條件去取可能的干擾。
對(duì)于植被光譜采集來(lái)講,,可以在葉片,、樹(shù)干或者冠層這樣的空間尺度采集光譜數(shù)據(jù)。冠層尺度下采集到的光譜數(shù)據(jù)更適用于圖像解譯,。粗略地可以用葉片或者樹(shù)干尺度的光譜數(shù)據(jù)直接解譯圖像,。當(dāng)然,使用葉片和樹(shù)干尺度下采集的光譜數(shù)據(jù)對(duì)于理解葉片和樹(shù)干如何影響冠層尺度的光譜是非常有用的,。
3,,光譜平均次數(shù)的選擇
野外測(cè)量時(shí),使用10-30次光譜平均就足夠了,。因?yàn)榘装鍏⒈炔⒉皇强傄杉?,白板參比的平均次?shù)可以增加到兩倍的光譜平均次數(shù)。注意,,信噪比是與光譜平均次數(shù)的平方根成正比,。
注意:實(shí)際使用的光譜平均次數(shù)還取決于測(cè)量要求。如果在室內(nèi)測(cè)量,,建議使用更大的光譜平均次數(shù),,這樣得到的數(shù)據(jù)信噪比更好。
如果在野外很大的區(qū)域測(cè)量,,則照明情況良好時(shí),,可以使用較少的光譜平均次數(shù)。
4,,優(yōu)化次數(shù)和時(shí)間間隔
如果測(cè)量數(shù)據(jù)沒(méi)有出現(xiàn)飽和現(xiàn)象,,則不強(qiáng)制要求重新優(yōu)化。
通常來(lái)講,,每間隔10-15分鐘重新優(yōu)化一次對(duì)于避免照明條件的改變?cè)斐傻母蓴_是有好處的,。
5,暗電流的處理
并不強(qiáng)制要求頻繁地采集按電流,。但是在儀器啟動(dòng)的初期(10-15分鐘內(nèi)),,間斷性地采集按電流對(duì)于提高數(shù)據(jù)質(zhì)量是有好處的,。
6,白板參比采集時(shí)間間隔
室內(nèi)測(cè)量:如果照明條件是基本恒定的,,在儀器預(yù)熱階段每隔10-15分鐘采集一次白板參比,,之后每隔30分鐘采集一次白板參比就可以了。
野外測(cè)量:應(yīng)當(dāng)盡可能頻繁地采集白板參比,,因?yàn)?/span>:
太陽(yáng)照明條件在不斷變化,建議使分鐘采集一次;
大氣狀況在不斷變化,,例如云、濕度或者水氣等等,;
溫度在不斷變化,。
重要的是,采集參比和測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí)的環(huán)境條件盡可能相同,。
7,,測(cè)量點(diǎn)的尺寸大于白板尺寸如何處理
的辦法是購(gòu)買一塊大尺寸的白板?;蛘邔⑻筋^靠近白板,。
室內(nèi)測(cè)量條件下,需要保證測(cè)量角度和距離保持不變,。
野外采用太陽(yáng)照明測(cè)量條件下,,靠近白板測(cè)量參比,然后以較大的距離測(cè)量目標(biāo)沒(méi)有任何問(wèn)題,。
8,何時(shí)采用反射比測(cè)量
取決于如何分析數(shù)據(jù),。反射比和反射率之間的差別,,在400-2000nm波段非常小,;而在350-400nm和2000-2500nm波段才能夠看出明顯的偏差,。
9,數(shù)據(jù)后處理
ViewSpec軟件是眾多數(shù)據(jù)后處理軟件之一,。
ENVI是圖像處理軟件,,也可以直接倒入ASD的光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。
10,,什么造成了光譜數(shù)據(jù)上帶有規(guī)律性的正弦振蕩,?
照明光源可能采用的是交流電。
11,,反射率光譜數(shù)據(jù)帶有臺(tái)階
光纖束導(dǎo)光的,、使用前端鏡頭的儀器在近距離測(cè)量時(shí)可能產(chǎn)生這個(gè)現(xiàn)象。
稍微移動(dòng)或者轉(zhuǎn)動(dòng)光纖或者測(cè)量角度,,就可以避免這個(gè)干擾,。
12,,如何清潔白板
使用白板是一定要戴手套,以免油污,。的清潔方法請(qǐng)參考隨白板一起提供的指導(dǎo)書(shū),。
被浮土輕度污染的白板:用壓縮氮?dú)饣蛘呖諝獯蹈蓛簦蛘哂妹⑶謇怼?/span>
注意,,不要使用氟利昂,。
重度污染的白板:在流水下或者離子化蒸餾水內(nèi)用220-240目的水砂紙輕輕打磨污染的表面,直到表面不沾水為止,。陰干至少24小時(shí),。
注意,不要使用有或者肥皂,。
13,,室內(nèi)照明光源
如果認(rèn)為一個(gè)ASD提供的Pro Lamp照明光源不是足夠的,建議使用兩個(gè)或者三個(gè)同樣的光源,。還可以使用灰板作為參考板,。
白板和灰板之間的差別,可以使用ViewSpec軟件做對(duì)比,。
照明范圍可以通過(guò)旋轉(zhuǎn)光源上的聚焦旋鈕得到,。
更換燈泡時(shí)一定要戴手套,以免燙傷,,也避免手上的油污污染燈泡上表面,。
14,光纖與手柄連接松緊度
光纖出口端頭位置的上下兩端有兩顆螺釘,。下面的一顆螺釘頭上有彈簧滾珠,。調(diào)整此螺釘即可調(diào)整光纖固定松緊度。
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