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徠卡顯微鏡在電子及半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用

時間:2022-6-6 閱讀:1049
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什么是晶圓?

晶圓是指半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓,,在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu),,而成為有特定電性功能之IC產(chǎn)品

wafer 即為晶圓,由純硅(Si)構(gòu)成,,晶片就是基于這個wafer上生產(chǎn)出來的,。

wafer上的一個小塊,就是晶片晶圓體,,學(xué)名die,封裝后就成為一個顆粒,。 

晶圓的尺寸?

晶圓的尺寸從初的2英寸到4/6/8英寸發(fā)展到當(dāng)前的12英寸



PCB是電子工業(yè)的重要部件之一,,幾乎每種電子設(shè)備,,小到電子手表、計算器,,大到計算機(jī),,通訊電子設(shè)備,只要有電子元器件,,為了它們之間的電氣互連,,都要使用印制板。


PCB在線路板制程中的應(yīng)用:盲孔深度測量,;通孔內(nèi)壁形貌觀察,;孔心距;銀線及焊腳觀察,;孔邊緣錫大小檢測,;常規(guī)器件引線焊點(diǎn)的檢驗(yàn)等。


平板顯示器FPD:玻璃上電極透明的話,,從玻璃一側(cè)看過去,,被擠壓的粒子會發(fā)白,會比原尺寸變大,。

電極不透明的話,,看粒子被擠壓后留在電極上的壓痕,壓痕重的壓合有效,。
有塑封時可以撕開FPC,看殘留在銅箔或玻璃電極上的粒子,,或者使用帶矯正環(huán)物鏡,,進(jìn)行無損檢測。
 
TFT-LCM 薄膜晶體管液晶顯示模組:ACF壓合以后的檢驗(yàn)-通常采用金相顯微鏡的微分干涉對壓合后的壓行檢驗(yàn)—COG


本文回顧了徠卡顯微鏡在電子及半導(dǎo)體行業(yè)推出的產(chǎn)品,,想必總有一款能滿足您的檢測需求 
DVM6 :超景深顯微鏡下的不同世界,,帶你領(lǐng)略鏡下之美

產(chǎn)品特點(diǎn):             
DVM6 數(shù)字顯微鏡采用了1000物理像素的高分辨率PLANAPO光學(xué)鏡頭。
16:1大變焦范圍,,可在12:1 到 2350:1 的放大倍率中進(jìn)行快速切換,;
對所有重要參數(shù)和設(shè)置值的編碼記錄,,還原之前拍攝效果;
不僅可對樣品進(jìn)行微觀觀察,,還能進(jìn)行二維三維等數(shù)據(jù)測量,。
DVM6 數(shù)碼顯微鏡可廣泛應(yīng)用在半導(dǎo)體、紡織,、材料科學(xué),、醫(yī)療、新能源,、電子等行業(yè),。

在半導(dǎo)體行業(yè):主要用于觀察芯片表面劃傷缺陷,同時可以測量凹槽深度

光伏板表面:觀察光伏板截面的涂層分布


銀線表面:觀察銀線表面的缺陷劃痕


導(dǎo)電粒子:觀察導(dǎo)電粒子的分布情況


在電子行業(yè)中:可以觀察PCB版上的錫球焊接質(zhì)量,,并且可以測量錫球的直徑和盲孔,,
同時也能觀察液晶屏的劃傷,劃痕,。

PCBA板:觀察PCBA板上的錫珠


液晶屏film層劃痕:觀察液晶屏劃痕及測量劃痕深度


Leica DM8000M/12000M 大平臺正置材料顯微鏡


Leica DM8000M


Leica DM12000M

優(yōu)點(diǎn):
  • 快速可切換UV和OUV對比度

  • 高反差的傾斜模式

  • 全內(nèi)置LED照明,,恒定色溫4000K

  • 高級復(fù)消色差光路設(shè)計

  • 配合電動掃描臺令精度更高,速度更快


高分辨觀察方法 – 斜照明



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