本報告介紹了使用光學顯微鏡對零部件的清潔度進行顆粒計數(shù)和分析的方法。顆粒計數(shù)和分析對汽車和電子行業(yè)的質(zhì)量保證非常重要,。顆粒污染可能會導致零部件退化或失效,。清潔度分析能快速確定顆粒的大小、類型以及造成損壞的概率,。對于更高級的分析（如確定顆粒成分）,，則可以使用光學顯微鏡和激光誘導擊穿光譜（LIBS）。
引言
顆粒污染會嚴重影響汽車零部件和電子元件的性能和壽命[1-3],。如果關(guān)鍵部件受到重度污染,，車輛或設備系統(tǒng)就會出現(xiàn)重大故障。因此,，在質(zhì)量保證方面,，清潔度對現(xiàn)代制造和生產(chǎn)至關(guān)重要[1-3]。
汽車零部件的清潔度顆粒分析發(fā)生在清洗零部件和通過過濾清洗液提取顆粒之后[1,2],。分析項目包括確定顆粒的尺寸和材料特性,，同時進行顆粒計數(shù)。
以下各節(jié)將詳細介紹用于顆粒計數(shù)和分析的光學顯微鏡方法,。
分析濾膜濾膜上的顆粒
分析濾膜上的顆粒時,，可選的技術(shù)方法很多，如光學顯微鏡或掃描電子顯微鏡（SEM）,，具體取決于顆粒尺寸和材料特性,。光學顯微鏡無疑是常用的顆粒分析方法。這種方法的成本很低,，而且可以自動進行,，因此有助于提高分析效率，即確定顆粒的數(shù)量,、大小和其他特定屬性（參考圖1）,。
圖1: 用光學顯微鏡對濾膜上的顆粒進行成像，然后進行分析,。
顆粒尺寸
顆?？筛鶕?jù)尺寸（即長、寬,、高）和材料特性（如金屬,、陶瓷或有機物）分為多種類別。光學顯微鏡可通過聚焦于濾膜的背景,，然后聚焦于顆粒的頂部,，從而測得顆粒的高度。大多數(shù)顆粒均為不規(guī)則,、非圓形的形狀,，因此長度可確定為接觸顆粒邊界的2條平行線之間的最大距離,，又稱為最大費雷特直徑[2,4]（參考圖2）。顆粒寬度是指接觸顆粒外部邊界的2條平行線之間的最小距離,，又稱為最小費雷特直徑[2,4],。
圖2: 濾膜上的顆粒圖像。顆粒為不規(guī)則形狀,。紅線表示標記的兩個顆粒的最大費雷特直徑,，綠線表示最小費雷特直徑。
顆粒成分
由金屬或陶瓷組成的顆粒都質(zhì)地堅硬,，可以研磨,；而由塑料和其他有機材料組成的顆粒則質(zhì)地柔軟，研磨性欠佳,。配有激光誘導擊穿光譜（LIBS）的光學顯微鏡可用于快速,、準確地測定顆粒成分[3]（參考圖3）。其他方法（如掃描電子顯微鏡（SEM）+能量色散X射線譜儀（EDS/EDX））的速度則較慢且用時更久,。與SEM/EDS/EDX相比,，LIBS能更快地確定顆粒成分，從而更有效地找出顆粒污染的來源[3],。
圖3: 經(jīng)LIBS分析的濾膜上的鋼質(zhì)顆粒的圖像,。
顆粒危害的潛在風險
顆粒損害零部件的風險高低與產(chǎn)品和行業(yè)有關(guān)。在汽車行業(yè)中,，大尺寸硬質(zhì)顆粒（如金屬和陶瓷）的研磨性和磨蝕性較高,，因此比纖長、柔軟的塑料纖維更易造成損害,。而在電子工業(yè)中,，顆粒（通常是金屬顆粒）的導電性會非常高,，尺寸超過200μm的顆粒容易導致電路板短路,。
顆粒分析解決方案
用戶可以采用基于光學顯微鏡的清潔度分析解決方案，高效,、準確地進行顆粒計數(shù)和分析,。綜合利用光學顯微鏡和激光誘導擊穿光譜（LIBS）的二合一材料分析解決方案先對濾膜上的顆粒進行目測，然后用LIBS進行化學分析,，從而能讓工作流程更加高效,、無縫銜接。
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