正置金相顯微鏡 具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能,,除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外,因?yàn)榉先说娜粘A?xí)慣,,因此更廣泛的應(yīng)用于透明,,半透明或不透明物質(zhì)。正置金相顯微鏡在觀察時(shí)成像為正像,,這對使用者的觀察與辨別帶來了極大的方便,。除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外,大于3微米小于20微米觀察目標(biāo),,比如金屬陶瓷,、電子芯片、印刷電路,、LCD基板,、薄膜、纖維,、顆粒狀物體,、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡,,都能有很好的成像效果,。
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