目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>光學(xué)測量系列>>晶圓測試儀器>> FPVIS-X7056自動(dòng)X射線檢測系統(tǒng)AXI,X射線jian測機(jī)器
3D自動(dòng)X射線檢測系統(tǒng)AXI X7056-II是為電子器件X射線檢測設(shè)計(jì)的三維AXI自動(dòng)X射線檢測機(jī)器,。
3D自動(dòng)X射線檢測系統(tǒng)采用優(yōu)良的X射線技術(shù)確保了電子產(chǎn)品的精確檢測,。內(nèi)聯(lián)X射線檢測技術(shù)以其高的吞吐量和出色的圖像質(zhì)量贏得了五項(xiàng)國際獎(jiǎng)項(xiàng),。即使是隱藏的焊點(diǎn)和組件也會(huì)顯示為水晶般清晰的切片圖像,,以確保無縫質(zhì)量控制,。
3D自動(dòng)X射線檢測系統(tǒng)X7056-II的一個(gè)特殊功能是在系統(tǒng)中集成AOI檢查并執(zhí)行組合檢查,,這是一個(gè)高效,、節(jié)省空間的亮點(diǎn),,可提供快速、全面的檢查結(jié)果,。
3D自動(dòng)X射線檢測系統(tǒng)AXI特點(diǎn)
該系統(tǒng)可以用作3D AXI系統(tǒng)或3D AXI/3D AOI的組合
革命性的xFastFlow處理概念,,只需4秒鐘即可更換印刷電路板
檢查單面或雙面電子組件
三種不同尺寸的平板探測器可實(shí)現(xiàn)可擴(kuò)展的吞吐量
借助3D分析和符合IPC的AXI檢測庫,快速創(chuàng)建檢測程序
通過集成驗(yàn)證最大限度地優(yōu)化檢驗(yàn)計(jì)劃
用于優(yōu)化分析和可靠驗(yàn)證的額外垂直切片
利用平面CT進(jìn)行高質(zhì)量3D AXI體積計(jì)算
3D自動(dòng)X射線檢測系統(tǒng)AXI規(guī)格參數(shù)
可檢查部件:高達(dá)0.3毫米間距的BGA,、QFN,、DFN、LGA,、THT/THR,、LED
可檢查焊點(diǎn):可見和隱藏的焊點(diǎn)
可檢查問題:焊點(diǎn)中的空氣夾雜物/氣孔(空洞)、存在,、錯(cuò)位,、焊料過多/不足、橋接,、焊球,、焊料濺射(可選)、焊接缺陷,、不潤濕,、污染、部件損壞,、部件缺失或不正確,、導(dǎo)線抬起、廣告牌、面朝下,、旋轉(zhuǎn),、極性、焊料芯吸(可選),、枕頭(球),,填充度和銷高度
AXI和AOI: 字符識別、顏色識別,、條形碼識別,、OCR(可選)、自由表面分析(可選)
探測器:平板探測器FPD,, 14bit 灰度
分辨率:6-32um/pixel
檢測方法:2D,、2.5D、3D僅作為X射線或作為AOI/AXI組合系統(tǒng)
檢測速度:AOI 65cm2/s, AXI depends on configuration
PCB大?。鹤畲驦450mm x W350mm
整體尺寸:1493 mm x 1631 mm x 2251 mm (W x H x D)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)