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目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>光學(xué)測量系列>>晶圓測試儀器>> FPPVA-SIRD晶圓殘余應(yīng)力測量系統(tǒng),晶圓應(yīng)力ce試

晶圓殘余應(yīng)力測量系統(tǒng),晶圓應(yīng)力ce試
  • 晶圓殘余應(yīng)力測量系統(tǒng),晶圓應(yīng)力ce試
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 FPPVA-SIRD
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2022-10-30 10:03:48瀏覽次數(shù):579評價

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晶圓殘余應(yīng)力測量系統(tǒng)SIRD是為晶圓應(yīng)力測試設(shè)計的晶圓殘余應(yīng)力檢測儀器,可以在對檢測波長透明的材料(例如硅)中產(chǎn)生可見應(yīng)力

晶圓殘余應(yīng)力測量系統(tǒng)SIRD是為晶圓應(yīng)力測試設(shè)計的晶圓殘余應(yīng)力檢測儀器,可以在對檢測波長透明的材料(例如硅)中產(chǎn)生可見應(yīng)力,。這里使用了應(yīng)力引起的雙折射效應(yīng):缺陷和材料不均勻性通常伴隨著應(yīng)力場,其空間擴(kuò)展比原因本身大幾倍,,如果材料暴露在剪切應(yīng)力下,,其折射率將變?yōu)楦飨虍愋?,材料將變?yōu)殡p折射。因此,,入射的線偏振光(激光)在透射或反射時會被樣品去極化,。因此,得到的去極化圖可以解釋為剪切應(yīng)力分布,。
晶圓殘余應(yīng)力測量系統(tǒng)特點
S工作方式與唱機(jī)類似:晶圓在轉(zhuǎn)盤上旋轉(zhuǎn),,并在半徑方向上間歇或連續(xù)(螺旋模式)移動
按照預(yù)設(shè)的測量協(xié)議記錄數(shù)據(jù);最小和最大半徑均可自由選擇
測量時間由選定的橫向分辨率決定(≥50µm)和掃描速度(最大約1 cm2s?1)
最重要的測量結(jié)果以去極化和透射圖的形式呈現(xiàn)
晶圓殘余應(yīng)力測量系統(tǒng)應(yīng)用背景
殘余應(yīng)力狀態(tài)是一種“指紋",,可以洞察材料或部件的形成或使用,。例如,,為了識別半導(dǎo)體襯底和組件結(jié)構(gòu)上的局部應(yīng)力狀態(tài)和缺陷,或者根據(jù)應(yīng)力狀態(tài)和缺陷分布信息優(yōu)化生產(chǎn)工藝,它們的分析是不可少的,。
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