原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗,，具有高水平的性能,、功能和配件選擇， 其測試功能強(qiáng)大,，操作簡便易行,。我們齊集數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗，廣大客戶反饋,，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求,，進(jìn)行了全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計,，實現(xiàn)了低漂移和低噪音水平?，F(xiàn)在，用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準(zhǔn)確的掃描圖像,。
原子力顯微鏡優(yōu)秀的分辨率,，與*的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測量速度與質(zhì)量,。它是針尖掃描技術(shù)的新革新,，一直處于先進(jìn)地位。該系統(tǒng)配置溫度補(bǔ)償位置傳感器,，實現(xiàn)了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平,，將這個性能應(yīng)用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺系統(tǒng)上,，效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平,。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計使儀器在較高掃描速度工作時，圖像質(zhì)量也不會被損壞,，實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量,。
分類：
1、接觸式：利用探針和待測物表面之原子力交互作用,，此作用力很小,，但由于接觸面積很小，因此過大的作用力仍會損壞樣品,，尤其對軟性材質(zhì),，不過較大的作用力可得較佳分辨率，所以選擇較適當(dāng)?shù)淖饔昧Ρ闶值闹匾?。由于排斥力對距離非常敏感,，所以較易得到原子分辨率。
2,、非接觸式：為了解決接觸式之AFM可能破壞樣品的缺點(diǎn),，便有非接觸式之AFM被發(fā)展出來，這是利用原子間的長距離吸引力來運(yùn)作，由于探針和樣品沒有接觸,，因此樣品沒有被破壞的問題,，不過此力對距離的變化非常小，所以必須使用調(diào)變技術(shù)來增加訊號對噪聲比,。在空氣中由于樣品表面水模的影響,，其分辨率一般只有55nm，而在超高真空中可得原子分辨率,。
3,、輕敲式：將非接觸式AFM改良，將探針和樣品表面距離拉近,，增大振幅,，使探針再振蕩至波谷時接觸樣品由于樣品的表面高低起伏，使的振幅改變,，再利用接觸式的回饋控制方式,，便能取得高度影像。分辨率介于接觸式和非接觸式之間,，破壞樣品之機(jī)率大為降低,，且不受橫向力的干擾。不過對很硬的樣品而言,，針尖仍可能受損,。
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