原子力顯微鏡主要由帶針尖的微懸臂,、微懸臂運動檢測裝置,、監(jiān)控其運動的反饋回路、使樣品進(jìn)行掃描的壓電陶瓷掃描器件,、計算機控制的圖像采集,、顯示及處理系統(tǒng)組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學(xué)方法或光束偏轉(zhuǎn)法,、干涉法等光學(xué)方法檢測,,當(dāng)針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時,檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像,,一般情況下分辨率也在納米級水平,。AFM測量對樣品無特殊要求,可測量固體表面,、吸附體系等,。
原子力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細(xì)探針與受測樣品原子之間的作用力,從而達(dá)到檢測的目的,,具有原子級的分辨率,。由于原子力顯微鏡既可以觀察導(dǎo)體,也可以觀察非導(dǎo)體,,從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足,。

對樣品的要求:
原子力顯微鏡研究對象可以是有機固體,、聚合物以及生物大分子等,樣品的載體選擇范圍很大,,包括云母片,、玻璃片、石墨,、拋光硅片,、二氧化硅和某些生物膜等,其中Zui常用的是新剝離的云母片,,主要原因是其非常平整且容易處理,。而拋光硅片Zui好要用濃硫酸與30%雙氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用電性能測試時需要導(dǎo)電性能良好的載體,,如石墨或鍍有金屬的基片。
試樣的厚度,,包括試樣臺的厚度,,Zui大為10 mm。如果試樣過重,,有時會影響Scanner的動作,,請不要放過重的試樣。試樣的大小以不大于試樣臺的大?。ㄖ睆?0 mm)為大致的標(biāo)準(zhǔn),。稍微大一點也沒問題。但是,,Zui大值約為40 mm,。如果未固定好就進(jìn)行測量可能產(chǎn)生移位。請固定好后再測定,。
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