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手機(jī)的加速壽命測(cè)試試驗(yàn)方法

閱讀:1791      發(fā)布時(shí)間:2014-10-14
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手機(jī)的加速壽命測(cè)試試驗(yàn)方法

樣機(jī)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量: PR1:10臺(tái)  PR2:12臺(tái)   PR3:12臺(tái)   PIR:12臺(tái)
試驗(yàn)周期:10-12天
室溫下參數(shù)測(cè)試:
1.1溫度沖擊測(cè)試                                  
測(cè)試環(huán)境:低溫箱:-30° C ,;高溫箱:+70° C
試驗(yàn)方法:手機(jī)帶電池,設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)先放置于高溫箱內(nèi)持續(xù)45分鐘后,,在15秒內(nèi)迅速移入低溫箱并持續(xù)45分鐘后,,再15秒內(nèi)迅速回到高溫箱。此為一個(gè)循環(huán),,共循環(huán)27次,。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后將樣機(jī)從溫度沖擊箱(高溫箱)中取出,恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀,、機(jī)械和電性能檢查,。對(duì)于翻蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品打開翻蓋,;對(duì)于滑蓋手機(jī),,應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):手機(jī)表面噴涂無異變,,結(jié)構(gòu)無異常,,功能正常,可正常,。
1.2.跌落試驗(yàn):
測(cè)試條件:1.5m高度,,20mm厚大理石地板。(對(duì)于觸摸屏手機(jī),跌落高度為1.3m)
試驗(yàn)方法:將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)進(jìn)行跌落,。對(duì)于直握手機(jī),,進(jìn)行6個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn),每個(gè)面的跌落次數(shù)為1次,每個(gè)面跌落之后進(jìn)行外觀,、結(jié)構(gòu)和功能檢查,。對(duì)于翻蓋手機(jī),進(jìn)行8個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn),;其中一半樣品合上翻蓋按直握手機(jī)的方法進(jìn)行跌落,,另一半樣品在跌正面和背面時(shí)須打開翻蓋,。跌落結(jié)束后對(duì)外觀,、結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行檢查。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):手機(jī)外觀,,結(jié)構(gòu)和功能符合要求,。
1.3振動(dòng)試驗(yàn):
測(cè)試條件:振幅:0.38mm/振頻:10~30Hz;振幅:0.19mm/振頻:30~55Hz,;
測(cè)試目的:測(cè)試樣機(jī)抗振性能
試驗(yàn)方法:將手機(jī)開機(jī)放入振動(dòng)箱內(nèi)固定夾緊,。啟動(dòng)振動(dòng)臺(tái)按X、Y,、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí),,每個(gè)軸振完之后取出進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查,。三個(gè)軸向振動(dòng)試驗(yàn)結(jié)束后,,對(duì)樣機(jī)進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):振動(dòng)后手機(jī)內(nèi)存和設(shè)置沒有丟失現(xiàn)象,,手機(jī)外觀,,結(jié)構(gòu)和功能符合要求,參數(shù)測(cè)試正常,,晃動(dòng)無異響,。
1.4 濕熱試驗(yàn):
測(cè)試環(huán)境:60° C,95%RH
測(cè)試目的:測(cè)試樣機(jī)耐高溫高濕性能
試驗(yàn)方法:將手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài),,放入溫濕度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上,,持續(xù)60個(gè)小時(shí)之后取出,常溫恢復(fù)2小時(shí),,然后進(jìn)行外觀,、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī),,應(yīng)將一半樣品合上翻蓋,,一半樣品打開翻蓋;對(duì)于滑蓋手機(jī),,應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置,。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):手機(jī)外觀,結(jié)構(gòu)和功能符合要求,。
1.5  靜電測(cè)試: 
測(cè)試條件:+/-4kV~+/-8kV,,開機(jī)并處于充電狀態(tài),,+/-4kV接觸和~+/-8kV空氣放電各10次。具體測(cè)試方法詳見公司測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)細(xì)則,。
測(cè)試目的:測(cè)試樣機(jī)抗靜電干擾性能                                          
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):在+/-4Kv 和 +/-8Kv時(shí)出現(xiàn)任何問題都要被計(jì)為故障,。

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