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涂層測厚儀的分類及測量原理
涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼,、鐵,、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁,、鉻,、銅、琺瑯,、橡膠,、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁,、鋅,、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯,、橡膠,、油漆,、塑料等）。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小,、可靠性高,、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點,，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器,，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè),、化工業(yè),、商檢等檢測領(lǐng)域。
對材料表面保護(hù),、裝飾形成的覆蓋層,，如涂層、鍍層,、敷層,、貼層、化學(xué)生成膜等,，在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）,。 覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段,。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中,，對覆層厚度有了明確的要求,。
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法,，電解法,，厚度差測量法，稱重法,，X射線熒光法,，β射線反向散射法，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等,。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣,，速度慢,，多適用于抽樣檢驗,。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴,，測量范圍較小,。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范,。X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。 隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,，特別是近年來引入微機技術(shù)后,，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能,、多功能,、高精度、實用化的方向進(jìn)了一步,。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬、操作簡便且價廉,，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器,。 采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快,，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行,。
對材料表面保護(hù),、裝飾形成的覆蓋層,，如涂層、鍍層,、敷層,、貼層、化學(xué)生成膜等,，在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）,。 覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段,。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中,，對覆層厚度有了明確的要求,。
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法,，電解法,，厚度差測量法，稱重法,，X射線熒光法,，β射線反向散射法，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等,。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣,，速度慢,，多適用于抽樣檢驗,。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴,，測量范圍較小,。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范,。X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。 隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,，特別是近年來引入微機技術(shù)后,，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能,、多功能,、高精度、實用化的方向進(jìn)了一步,。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬、操作簡便且價廉,，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器,。 采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快,，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行,。