涂層測厚儀的分類及測量原理
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,,如涂層,、鍍層、敷層,、貼層,、化學生成膜等,在有關(guān)國家和標準中稱為覆層(coating),。 覆層厚度測量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),,是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段,。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項目中,,對覆層厚度有了明確的要求,。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,,電解法,,厚度差測量法,稱重法,,X射線熒光法,,β射線反向散射法,電容法,、磁性測量法及渦流測量法等,。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,,速度慢,,多適用于抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量,,但裝置復雜昂貴,,測量范圍較小。因有放射源,,使用者必須遵守射線防護規(guī)范,。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層,、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用,。 隨著技術(shù)的日益進步,,特別是近年來引入微機技術(shù)后,,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能,、多功能,、高精度、實用化的方向進了一步,。測量的分辨率已達0.1微米,,精度可達到1%,有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,,量程寬、操作簡便且價廉,,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器,。 采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,,能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行,。