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手持式合金光譜分析儀原理及優(yōu)勢(shì)
點(diǎn)擊次數(shù)：430 發(fā)布時(shí)間：2023-1-29
隨著金屬行業(yè)對(duì)化合金測(cè)量和應(yīng)用技術(shù)的要求越來越高，選擇合適的儀器來測(cè)量金屬元素,，以確保合金分析儀的使用壽命和可靠性已經(jīng)成為一種常見的做法,。手持式合金光譜分析儀采用XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)中的特定元素,，并對(duì)其進(jìn)行量化,。
原理:
每個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電粒子）運(yùn)行在核子周圍的軌道上。并且電子的數(shù)量等于核子中的質(zhì)子（正電粒子）的數(shù)量,。從元素周期表中的原子數(shù)可以知道質(zhì)子的數(shù)量,。每個(gè)原子數(shù)對(duì)應(yīng)固定的元素名稱，如鐵,，元素名為Fe,，原子數(shù)為26。能量色散X螢光和波長(zhǎng)色散X螢光譜分析技術(shù)專門研究和應(yīng)用了三個(gè)電子軌道,，即k,、l、m上的活動(dòng),，其中k軌道接近核,，每個(gè)電子軌道對(duì)應(yīng)一個(gè)特定的能量層。
手持式合金光譜分析儀在XRF分析方法中,，從X射線發(fā)射管中輻射的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素,。這些初級(jí)光子含有足夠的能量來撞擊和脫軌k層或L層的電子。此時(shí),，原子變成了不穩(wěn)定的離子,。因?yàn)殡娮颖灸軙?huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間,。當(dāng)這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層時(shí),，它們會(huì)釋放能量,，我們稱之為二次x光光子。
手持式合金光譜分析儀的整個(gè)過程稱為熒光輻射,。每一種元素的二次射線都有自己的特點(diǎn),。x光光子熒光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)外能量差決定的。例如,，鐵原子Fe的Kα能量約為6.4千電子伏,。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)輻射的x光的數(shù)量或密度可以用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布,。
優(yōu)點(diǎn)：
1,、薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到先進(jìn)水平,；
2,、數(shù)字多道技術(shù)，使測(cè)試更快,，計(jì)數(shù)精度更高,；
3、SDD硅漂移探測(cè)器具有良好的線性能量,、能量分辨率和能譜特性,，峰背比高，能有效提高元素的檢測(cè)極限,；
以上就是上海澤權(quán)儀器設(shè)備有限公司對(duì)于手持式合金光譜分析儀原理及優(yōu)勢(shì)的見解,，希望對(duì)您有所幫助。