X熒光光譜儀采用行業(yè)的極速探測(cè)器技術(shù)——（SDD）分辨率Z低至125eV優(yōu)勢(shì)：探測(cè)面積大（面積達(dá)25mm2）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多,、計(jì)數(shù)率高分辨率好,，探測(cè)效率更高,，探測(cè)信噪比更強(qiáng),，檢出限更低。
X熒光光譜儀性能優(yōu)勢(shì)
快—1秒鐘出結(jié)果
采用行業(yè)的極速探測(cè)器技術(shù)——（SDD）分辨率zui低至125eV
優(yōu)勢(shì)：探測(cè)面積大（面積達(dá)25mm2）,、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多,、計(jì)數(shù)率高分辨率好，探測(cè)效率更高,，探測(cè)信噪比更強(qiáng),，檢出限更低
采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢(shì)：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率,，保證采集有效計(jì)數(shù)率zui高可達(dá)1000Wcps
采用大功率X光管及優(yōu)良的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：激發(fā)效率更高
X熒光光譜儀光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：樣品更換無需關(guān)閉高壓,，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度
精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)
多點(diǎn)測(cè)試
2D全自動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制,，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試
超小樣品檢測(cè)——zui小可測(cè)到0.2毫米
8種準(zhǔn)直器,、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進(jìn)行選擇
準(zhǔn)直器zui小可達(dá)0.2毫米,，針對(duì)超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測(cè)
人性化的設(shè)計(jì)
更安全：X射線聯(lián)動(dòng)安全裝置——光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng),；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)
更快捷：多點(diǎn)測(cè)試，點(diǎn)哪測(cè)哪
預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時(shí)間,，儀器可定時(shí)開始測(cè)試
預(yù)約開機(jī)預(yù)熱功能：客戶可預(yù)約儀器開機(jī)時(shí)間,，同時(shí)可以儀器預(yù)熱并自動(dòng)檢測(cè)、校正儀器狀態(tài),；同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī),，
關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示
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