X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 分析儀,，具有多種選擇,，可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的鍍層,，是必須確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品,、連接器、裝飾品和珠寶分析的理想選擇,。

X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀的優(yōu)勢在于其多功能性,。您可以從多種配置中進(jìn)行選擇，包括五種基本配置以適應(yīng)不同尺寸的樣品,、六種準(zhǔn)直器尺寸用于優(yōu)化分析不同尺寸的特征,，以及有助于加快測量過程同時保持準(zhǔn)確性的附加自動化功能。X-Strata920 易于使用,，軟件直觀,，可由非專業(yè)人員操作，并可輕松融入您的生產(chǎn)或質(zhì)量保證部門,。

產(chǎn)品亮點

X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀具有多種選項和多功能性,，可容納各種樣品,，每次都能提供精確的分析。

• 適應(yīng)性設(shè)計,，可對各種產(chǎn)品進(jìn)行可靠分析

• 自動對焦和可選的程控臺提高了準(zhǔn)確性和速度

• 直觀的 SmartLink 軟件使測量和導(dǎo)出數(shù)據(jù)變得容易

• 多準(zhǔn)直器設(shè)計為每個樣品提供高準(zhǔn)確性

• 選擇適合應(yīng)用的比例計數(shù)器或硅漂移檢測器 (SDD)

• 符合行業(yè)規(guī)范,，例如 IPC-4552A、ISO3497,、ASTM B568 和 DIN50987

• 簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內(nèi)提供結(jié)果

• 強大的光學(xué)分析單層和多層鍍層,，包括合金層

對比型號