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日立推出用于有害物質(zhì)控制的EA1400 ROHS分析儀
中國，2020年9月15日：日立分析儀器推出用于有害物質(zhì)控制的EA1400 ROHS分析儀。
【EA1400臺式XRF光譜儀】
簡化RoHS篩查
這款新的有害物質(zhì)分析儀專為在制造廠中發(fā)揮關(guān)鍵作用而設(shè)計,，以符合新指令要求。EA1400臺式XRF光譜儀采用的檢測技術(shù)和創(chuàng)新的x射線光學(xué)設(shè)計,，用于快速篩查RoHS物質(zhì),。EA1400助力客戶進(jìn)行所需的篩查，以加快和簡化生產(chǎn)環(huán)境中的RoHS檢測,，并允許客戶隨指令變化更新物質(zhì)控制標(biāo)準(zhǔn)。
全新的硅漂移探測器(SDD)設(shè)計能提高分析鎘和鉛等RoHS物質(zhì)的準(zhǔn)確度和速度,。新優(yōu)化的x射線照射方法可提高分析不平坦和不規(guī)則表面的可重現(xiàn)性,。此外，高性能探測器能提高計數(shù)率,，增加探測痕量元素的精密度,，并且實現(xiàn)測量較輕元素的能力。為了確保高生產(chǎn)率,，將黃銅中鎘的篩查(通常是XRF RoHS篩查中具挑戰(zhàn)性的一項)功能設(shè)計成比傳統(tǒng)型號速度更快,，從而大幅提高通量。
該軟件的一項內(nèi)置功能可直觀標(biāo)記超出預(yù)設(shè)濃度限制的預(yù)定義元素。使用精密度控制軟件的EA1400一旦達(dá)到預(yù)定義參數(shù)將自動停止分析,?？稍陬A(yù)定義測量時間之前確定合格/失敗情況，由此可增加測量多件樣本的通量,，從而節(jié)省時間且不會影響質(zhì)量計劃,。
除了RoHS篩查，EA1400也能夠辨別礦渣(硅,、鈣,、鋁和鎂)、聚合物,、礦物,、化學(xué)品和其他材料中的主要成分。
日立分析儀器產(chǎn)品經(jīng)理Ashley-Kate McCann表示：“客戶需要我們幫助其縮短測量每件樣品的時間,、簡化測量結(jié)果管理,、減少操作失誤、提高效率,。EA1400在滿足此類客戶需求的同時還能實現(xiàn)更高的檢出限,，且可為當(dāng)前和未來不斷變化的RoHS和其他限制物質(zhì)指令提供一種篩查工具。”
現(xiàn)在就可訂購EA1400,。
日立分析儀器簡介：
日立分析儀器是日立高新技術(shù)集團(tuán)旗下的一家性公司,。該公司總部位于英國牛津，其在芬蘭,、德國和中國有研發(fā)和組裝業(yè)務(wù),，在多個國家有銷售和支持業(yè)務(wù)。我們的產(chǎn)品范圍包括：
· 專業(yè)ROHS分析儀：EA1000AIII,、EA6000VX和HM1000A分析儀于分析限制有害物質(zhì),，使用簡單快捷，可根據(jù)不斷變化的法規(guī)對其進(jìn)行靈活調(diào)整,。
· 手持式分析儀：數(shù)以千計的企業(yè)使用X-MET8000的精密XRF技術(shù)為合金分析,、廢金屬分揀和金屬牌號篩查提供簡單、快速,、無損的分析,。Vulcan由LIBS激光技術(shù)驅(qū)動，可在一秒鐘內(nèi)識別金屬合金,；非常有利于企業(yè)處理大量金屬,，是世界上速度快的分析儀之一。
· Microspot XRF鍍層分析儀：FT160,、FT110A和X-Strata可測量單層和多層鍍層(包括合金層)的鍍層厚度,，適用于質(zhì)量控制或過程控制程序以及研究實驗室。
· 多功能臺式XRF光譜儀：Lab-X5000和X-Supreme8000為石油、木材處理,、水泥,、礦物、采礦和塑料等多個行業(yè)提供高度可靠的質(zhì)量保證和過程控制,。
· OES金屬分析儀：OE750,、PMI-MASTER、FOUNDARY-MASTER和TEST-MASTER系列直讀光譜儀可用于諸多行業(yè)的高精密度金屬分析,。
· 熱分析：DSC7000X,、DSC7020、NEW STA,、TMA7100,、TMA7300和DMA7100熱分析系列經(jīng)過優(yōu)化后堅固耐用、高度可靠且易于使用,，可探測和觀察小的反應(yīng),。
· 鋰離子電池分析：EA8000A x射線粒子污染物分析儀于鋰離子電池生產(chǎn)中快速有效的質(zhì)量控制。
