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將直讀光譜儀用于當今金屬制造業(yè)所面臨的7大挑戰(zhàn)
如今的直讀光譜儀是金屬加工設(shè)備質(zhì)量控制的重要組成部分,。然而,，將直讀光譜儀順暢地集成至質(zhì)量控制的過程中會帶來需要被克服的挑戰(zhàn)和障礙,。下文闡述了制造商在開始使用新機器時遇到的七個常見問題,。
挑戰(zhàn)1：分析不規(guī)則和復雜的形狀
為了使用OES光譜儀獲得準確可靠的結(jié)果，光譜儀的火花臺必須與被測金屬表面形成完整的密封,。如果讓空氣進入產(chǎn)生火花的空間,，則得到錯誤的結(jié)果,。當制造商試圖測量表面積小的復雜形狀時,，很明顯這種情況下幾乎不可能在樣品和火花臺之間獲得良好的接觸。
解決方案
可為火花臺配備一個適配器,，以減少火花臺孔的直徑,，使其更容易在小的、不規(guī)則的或復雜的形狀上獲得良好的接觸,。日立的OES光譜儀系列提供適配器,，可測量直徑小于3mm的線材。此外,，日立的固定式OES光譜儀有一個三邊開放的火花臺,，可實現(xiàn)對不規(guī)則形狀樣品的位置固定。
挑戰(zhàn)2：遵守規(guī)范和法規(guī)
一些法規(guī)要求OES光譜儀具備極低檢出限方為合規(guī),，例如控制鋼中氮含量的ASTM E415規(guī)范,。這需要一臺能分析含量低于10ppm的氣體元素的OES光譜儀。
解決方案
不幸的是,，這取決于分析儀本身的能力,，我們的建議是確保在購買分析儀前，分析儀能符合規(guī)范和法規(guī),。當然,，監(jiān)管越來越嚴格，確保選擇性價比高的儀器有助于從投資中獲得最大收益,。
挑戰(zhàn)3：運營成本高
OES光譜儀耗費較高運營成本的兩個方面是電力和氬氣的使用,。隨著時間的推移，這類成本確實會積少成多,，尤其是在使用OES光譜儀進行100%測試的情況下亦如此,。
解決方案
日立OE系列火花光譜儀包括一個火花臺,，已針對低氬氣消耗對該火花臺進行優(yōu)化，其工作功率約為之前型號的10%,。
挑戰(zhàn)4：準確度和誤差范圍
分析的最佳慣例要求計算測量的誤差范圍——這是許多標準測試方法的要求,。對于那些從未計算過測量準確度和誤差范圍的用戶而言，這似乎是一項極其復雜和艱巨的任務(wù),。
解決方案
我們已經(jīng)撰寫一份指南,，指導您計算光譜測量的誤差范圍。您可以在下面鏈接中免費下載指南《搜索真實值》,。我們還為客戶提供在線培訓,。
挑戰(zhàn)5：易用性
火花光譜法是一種專業(yè)而強大的技術(shù)。確保獲得可靠,、精準的結(jié)果依賴于準確的測量過程（包括取樣以解讀結(jié)果和牌號識別）,。此外，火花光譜儀能夠提供非常詳細的信息,，這可能超出了新用戶的能力,。
解決方案
進行分析和解讀結(jié)果的容易程度取決于分析儀的軟件。日立旗下的儀器使用成熟,、直觀的軟件,，這意味著用戶不需要成為冶金學專家便能獲得良好的結(jié)果。日立的操作軟件SpArcfire能引導用戶逐步地完成這個過程,，并提供在線幫助,、提示信息和其他向?qū)АＶ恍椟c擊一下即可創(chuàng)建分析結(jié)果,。除了直觀的操作軟件,，日立所有的火花光譜儀還預先安裝超大規(guī)模的金屬數(shù)據(jù)庫，以確保用戶獲得所要求的牌號,。只需幾個步驟即可創(chuàng)建定制的牌號數(shù)據(jù)庫,，并輕松查閱需要的信息，而無需耗費時間在規(guī)范和牌號目錄中進行研究,。
挑戰(zhàn)6：高通量
有時,，OES光譜儀分析的挑戰(zhàn)來自待分析樣品的絕對數(shù)量。當制造商接納新客戶或開發(fā)新流程時,，可能會發(fā)生這種情況,，并且一天內(nèi)要測量的樣品數(shù)量突然比以前多得多。在某些情況下,，這可能會使OES光譜儀分析成為生產(chǎn)過程中的真正瓶頸,。
解決方案
選擇具有快速啟動和分析時間短等優(yōu)點的儀器將有助于盡快開始測試。除此之外,，保持對直讀光譜儀正確維護和校準（以避免意外停機）并保持待機模式,，也有助于高通量分析,。
挑戰(zhàn)7：需要測試更多元素
由于廢金屬的使用增加且供應(yīng)鏈變得復雜，制造商發(fā)現(xiàn)他們需要測試比以前更多的元素,。對于廢料,，這意味著需要在非常低的檢出限的情況下測試鋅，這可能會將一些分析儀推向極限,。還需要對碳當量計算的各種元素進行測試,，其中一些元素也需要仔細分析。
解決方案
關(guān)于依賴OES光譜儀作為分析方法的10個最常見元素的詳細討論,，您可以下載免費指南《10個需要火花直讀光譜儀才能獲得精確結(jié)果的元素》,。
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日立的一系列OES火花光譜儀旨在輕松地將其集成至制造質(zhì)量控制過程中。若需了解更多信息,，請與我們聯(lián)系,。
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