使用合適的分析儀是此過(guò)程的重要環(huán)節(jié),。X射線熒光光譜（XRF）是一種廣泛用于測(cè)量鍍層厚度和成分的鍍層技術(shù)，因?yàn)槠渚哂袩o(wú)損,、快速和直觀的特點(diǎn),。

XRF儀器具有多種形式，其特征決定了儀器對(duì)應(yīng)用的適用性,。

特征尺寸

要測(cè)量小樣品上的鍍層,，XRF鍍層測(cè)厚儀使用以下兩種方法之一，將X射線管的光束尺寸減小到毫米的幾分之一（即微米）：傳統(tǒng)上使用的是機(jī)械準(zhǔn)直器,，具有小孔的金屬塊放置在光管的前面,，只允許與孔對(duì)準(zhǔn)的X射線穿過(guò)并到達(dá)樣品。較新的技術(shù)使用毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件 — 一種由彎曲和錐形小玻璃管陣列組成的聚焦光學(xué)器件,。X射線經(jīng)反射引導(dǎo)通過(guò)管道,，類似于光纖技術(shù)中的光引導(dǎo)方式。毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件與微束X射線管匹配,，以收集更多的X射線管輸出,，將其聚焦到更小的面積，其通量比機(jī)械準(zhǔn)直系統(tǒng)的通量大幾個(gè)數(shù)量級(jí),。

毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件通常僅包含一個(gè)光斑尺寸,，旨在測(cè)量非常小的面積。這也可以測(cè)量更大的樣品,，但可能需要對(duì)多個(gè)測(cè)量位置的結(jié)果進(jìn)行平均,，或者執(zhí)行掃描以獲得整體樣品的代表性結(jié)果。具有多個(gè)機(jī)械準(zhǔn)直器的儀器可提供更大的靈活性,，因?yàn)榭梢葬槍?duì)要測(cè)量的樣品對(duì)準(zhǔn)直器形狀和尺寸進(jìn)行優(yōu)化,。而且，使用大型準(zhǔn)直器可以更快速地分析更大的面積,。

由于電子電路和電子元件不斷變得更小,、更復(fù)雜，所以表面處理需要在更小的特征上進(jìn)行電鍍,。盡管您今天可能不需要毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件,，但這可能是一個(gè)不錯(cuò)的選擇，使您的購(gòu)買不過(guò)時(shí),。

應(yīng)用的復(fù)雜性

在任何XRF儀器中,，X射線源被用來(lái)激發(fā)樣品中元素的發(fā)射熒光。在發(fā)射熒光中，每個(gè)元素都會(huì)釋放出一系列具有特征能量的X射線,。使用能量色散型XRF儀器,，探測(cè)器可同時(shí)檢測(cè)到被X射線管激發(fā)的所有元素的熒光。探測(cè)器是以下兩種類型之一：封氣正比計(jì)數(shù)器或固態(tài)半導(dǎo)體,。常見(jiàn)的固態(tài)檢測(cè)器稱為PIN二極管或硅漂移探測(cè)器（SDD）,。

這些探測(cè)器之間的關(guān)鍵區(qū)別之一是分辨率 — 或者清楚地區(qū)分具有相似能量的元素的能力。當(dāng)樣品中存在鎳和銅時(shí),，比如ENIG或ENEPIG樣品,，正比計(jì)數(shù)器不能*解析鎳和銅的峰值。該儀器依賴于數(shù)學(xué)峰形擬合或使用了附件硬件的順序分析,，附件硬件將增加測(cè)量時(shí)間,。固態(tài)探測(cè)器可以*解析這些峰值，同時(shí)測(cè)量?jī)蓚€(gè)元素以進(jìn)行更快速的分析,。兩種探測(cè)器均可能滿足IPC -4552A和IPC – 4556規(guī)范,。對(duì)于元素易于分辨的表面處理（例如浸銀、浸錫或HASL）,，固態(tài)探測(cè)器的分辨率無(wú)任何優(yōu)勢(shì),。

除樣品中存在的元素之外，還要考慮鍍層厚度和光束尺寸,。固態(tài)探測(cè)器具有優(yōu)勢(shì),。SSD在測(cè)量非常薄的涂層方面具有優(yōu)勢(shì)，因?yàn)檫@些探測(cè)器的背景噪聲往往低于正比計(jì)數(shù)器,。如果電鍍小于?2μin（0.05μm）,，則值得考慮使用固態(tài)探測(cè)器。然而,，當(dāng)使用機(jī)械準(zhǔn)直器測(cè)量非常小的面積時(shí),，由于較大的有效面積，比例計(jì)數(shù)器可以提供更好的精度和測(cè)量時(shí)間,。

功能

XRF鍍層儀器具有多種形狀和尺寸,，甚至包括用于測(cè)量較大產(chǎn)品和總成部件的手持式儀器。您的決定將受到三個(gè)考慮因素的影響：樣品室設(shè)計(jì),、樣品臺(tái)和先進(jìn)的可用性特征,。

樣品室大小和儀器占用空間可根據(jù)線路板尺寸進(jìn)行選擇。小型線路板可以放入任何尺寸樣品室,；但較大的線路板使用更大的樣品臺(tái)和更大的樣品室則更方便,。有些樣品室*封閉，這樣可以防止在分析過(guò)程中線路板意外移動(dòng),。其他樣品室開(kāi)槽,，這樣便于樣品裝載,。開(kāi)槽樣品室中的底座或樣品臺(tái)足夠大，可支撐線路板,，使其不會(huì)彎曲,，從而避免影響結(jié)果,。

樣品臺(tái)可為固定或電動(dòng)型,，并且可編程。固定樣品臺(tái)足以對(duì)易于定位檢測(cè)面積的電路板上一個(gè)或幾個(gè)位置進(jìn)行點(diǎn)檢,。用戶可以使用固定樣品臺(tái)手動(dòng)定位樣品,，但是對(duì)于具有復(fù)雜設(shè)計(jì)和極小特征的電路板，在電動(dòng)樣品臺(tái)上的處理效果會(huì)更好,，這種樣品臺(tái)可提供更好的精確度來(lái)進(jìn)行微調(diào),。程控樣品臺(tái)還能夠在樣品的不同位置進(jìn)行一系列測(cè)量，從而使用戶可執(zhí)行其他任務(wù),。

除XRF儀器中常見(jiàn)的特征之外,，還有一些高級(jí)特征可以提高工作效率并使儀器更易于操作。其中之一是廣角相機(jī),。除用于精確定位樣品進(jìn)行分析的窄視角外,，一些儀器還提供了更寬的角度來(lái)顯示更多的樣品。這使得從一個(gè)位置移動(dòng)到另一個(gè)位置變得更容易,、更快速,，并確保正在測(cè)量正確的位置。另一個(gè)特征是模式識(shí)別,，其指示軟件查看樣品圖像,，并精確定位準(zhǔn)確的預(yù)定義測(cè)量位置。這為用戶節(jié)省了大量的設(shè)置時(shí)間,。

日立分析儀器的FT160,、X-Strata和EA系列涂層分析儀提供全面的光束尺寸、探測(cè)器和配置,。由于許多應(yīng)用可通過(guò)這些儀器中來(lái)進(jìn)行,，因此終選擇需要平衡現(xiàn)在所生產(chǎn)線路板以及計(jì)劃在未來(lái)生產(chǎn)的線路板的功能、性能和成本,。我們的鍍層專家致力于為您提供正確的解決方案,。

日立分析儀器擁有45年的鍍層分析專業(yè)知識(shí)，開(kāi)發(fā)了1,000多種應(yīng)用,，其中包括一系列產(chǎn)品：微焦斑,、臺(tái)式和手持式XRF儀器，以及臺(tái)式和手持式磁感應(yīng)電渦流測(cè)厚儀,。