產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 D1型
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 D1型、磁探試片
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 D1型,、磁探試片用于磁粉探傷時對幾何形狀復(fù)雜,,不同材質(zhì)的工件檢驗時,可以正確地選擇磁化規(guī)范,,并可檢驗探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能,,在磁粉探傷操作中,,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作需要的電流峰值和方向,,并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量,,是磁粉探傷*的調(diào)試工具。
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 D1型 符合JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn) 承壓設(shè)備無損檢測 第4部分 磁粉檢測
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 D1型用于檢驗磁粉探傷設(shè)備,、磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),,及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強(qiáng)度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程,。
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 D1型規(guī)格:15/50,、7/50、30/50三種規(guī)格,,適用于有曲率的探傷面,,6片/套
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 D1型規(guī)格:10×10mm,厚度50υm