產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型,、磁探試片
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型、磁探試片用于磁粉探傷時對幾何形狀復(fù)雜,,不同材質(zhì)的工件檢驗時,,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢驗探傷設(shè)備,、磁粉或磁懸液的性能,,在磁粉探傷操作中,可以避免漏檢,,正確地知道探傷工作需要的電流峰值和方向,,并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量,是磁粉探傷*的調(diào)試工具,。
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型 符合JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn) 承壓設(shè)備無損檢測 第4部分 磁粉檢測
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型用于檢驗磁粉探傷設(shè)備,、磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),及磁化方向,、有效磁化范圍和大致的有效磁場強(qiáng)度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程,。
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型規(guī)格:φ12(7/15)、 φ9(15/50),、 φ6(30/50) 2片/套