超聲波探傷儀探傷常見(jiàn)的疑難問(wèn)題解答
閱讀:2309 發(fā)布時(shí)間:2012-8-6
超聲波探傷儀探傷常見(jiàn)的疑難問(wèn)題解答
超聲波探傷儀一,、超聲波探傷儀探傷中,,超生波在介質(zhì)中傳播時(shí)引起衰減的原因是什么,?
?。?)超聲波的擴(kuò)散傳播距離增加,,波束截面愈來(lái)愈大,,單位面積上的能量減少,。
(2)材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收,;二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射,。
二、CSK-ⅡA試塊的主要作用是什么,?
?。?)校驗(yàn)靈敏度;
?。?)校準(zhǔn)掃描線(xiàn)性,。
三、用超聲波對(duì)餅形大鍛件探傷,,如果用底波調(diào)節(jié)超聲波探傷儀起始靈敏度對(duì)工作底面有何要求,?
?。?)底面必須平行于探傷面;
?。?)底面必須平整并且有一定的光潔度,。
四、超聲波探傷儀主要有哪幾部分組成,?
主要有電路同步電路,、發(fā)電路、接收電路,、水平掃描電路,、顯示器和電源等部份組成。
五,、超聲波探傷發(fā)射電路的主要作用是什么,?
由同步電路輸入的同步脈沖信號(hào),觸發(fā)發(fā)射電路工作,,產(chǎn)生高頻電脈沖信號(hào)激勵(lì)晶片,,產(chǎn)生高頻振動(dòng),并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波,。
六,、超聲波探傷儀探傷中,晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么,?
晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙,,會(huì)使超聲波*反射,造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無(wú)法探傷,。
七,、JB1150-73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的超聲波探傷儀探傷判別缺陷的三種情況是什么?
?。?)無(wú)底波只有缺陷的多次反射波,。
(2)無(wú)底波只有多個(gè)紊亂的缺陷波,。
?。?)缺陷波和底波同時(shí)存在。
八,、JB1150-73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的距離――波幅曲線(xiàn)的用途是什么,?
距離――波幅曲線(xiàn)主要用于判定缺陷大小,給驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)提供依據(jù)它是由判廢線(xiàn),、定量線(xiàn),、測(cè)長(zhǎng)線(xiàn)三條曲線(xiàn)組成;
判廢線(xiàn)――判定缺陷的zui大允許當(dāng)量,;
定量線(xiàn)――判定缺陷的大小,、長(zhǎng)度的控制線(xiàn),;
測(cè)長(zhǎng)線(xiàn)――探傷起始靈敏度控制線(xiàn)。
九,、超聲波探傷儀與X射線(xiàn)探傷相比較有何優(yōu)的缺點(diǎn),?
超聲波探傷儀比X射線(xiàn)探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短,、成本低,、靈活方便、效率高,,對(duì)人體無(wú)害等優(yōu)點(diǎn),;缺點(diǎn)是對(duì)工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類(lèi),、對(duì)缺陷沒(méi)有直觀(guān)性;超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn),。
十,、超聲波探傷儀探傷板厚14毫米時(shí),距離波幅曲線(xiàn)上三條主要曲線(xiàn)的關(guān)系怎樣,?
測(cè)長(zhǎng)線(xiàn)Ф1х6-12dB
定量線(xiàn)Ф1х6-6dB
判度線(xiàn)Ф1х6-2dB
十一,、用超聲波探傷儀探傷時(shí),底波消失可能是什么原因造成的,?
?。?)近表表大缺陷;
?。?)吸收性缺陷,;
(3)傾斜大缺陷,;
?。?)氧化皮與鋼板結(jié)合不好。