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通訊系統(tǒng)中率降壓型變換器的設(shè)計(jì)考慮

時(shí)間:2010/3/3閱讀:1696

通訊系統(tǒng)中率降壓型變換器的設(shè)計(jì)考慮

目前,,通訊系統(tǒng)要求越來(lái)越快的處理速度,,其內(nèi)部集成芯片、處理器單元等電路消耗的電流也越來(lái)越大,。同時(shí),,為減小系統(tǒng)的體積和尺寸,內(nèi)部的低壓大電流的DC/DC 變換器不斷向頻,、方向發(fā)展,。頻率的提帶來(lái)了系統(tǒng)變換效率的降低。此外,,范圍內(nèi)的能源危機(jī)和環(huán)境污染提出了減排的要求,因此,,基于頻的變換器必須采用的器件,,以系統(tǒng)既能工作在頻下,實(shí)現(xiàn)小尺寸小體積,,又能提系統(tǒng)的整體效率,,達(dá)到減排的目的。整體效率的提,,進(jìn)步降低了電源系統(tǒng)的發(fā)熱量,,提了系統(tǒng)的。通訊系統(tǒng)內(nèi)部的系統(tǒng)板使用了大量的降壓型變換器,,本文將詳細(xì)的討論這種變換器的設(shè)計(jì),。

 

降壓型變換器工作特點(diǎn)

 

在通訊系統(tǒng)的系統(tǒng)板上,前通常是從-48V電源通過(guò)電源或電源模塊得到12V或24V輸出,,也有采用3.3或5V輸出,。目前基于ATCA的通訊系統(tǒng)大多采用12V的中間母線架構(gòu),然后再由降壓型變換器將12V向下轉(zhuǎn)換為3.3,、5V,、2.5V,、1.8V、1.25V等多種不同的電壓,。常規(guī)的降壓型變換器續(xù)流管采用肖特基二管,,而同步降壓型變換器下面的續(xù)流管卻使用功率MOSFET。由于功率MOSFET的導(dǎo)通電阻Rds(on)小,,導(dǎo)通電壓也遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于肖特基二管的正向壓降,,所以效率。因此,,對(duì)于低壓大電流的輸出,,通常利用同步的降壓型變換器獲得較的效率。

 

對(duì)于降壓型變換器,,有以下的公式:

 

Vo=Don×Vin

 

其中,, 為占空比。當(dāng)輸入電壓較時(shí),,占空比就小,。因此,當(dāng)輸入電壓,,而輸入電壓較低,,即輸入輸出的電壓差較大時(shí),在個(gè)開(kāi)關(guān)周期,,上部主功率開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通的時(shí)間將減小,,而下部續(xù)流開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通的時(shí)間將延長(zhǎng)。圖1為上部MOSFET管和下部MOSFET管的工作波形,,陰影為產(chǎn)生開(kāi)關(guān)損耗的部分,。

 

(a) 上管的開(kāi)關(guān)波形

 

(b) 下管的開(kāi)關(guān)波形

 

 

通訊系統(tǒng)中率降壓型變換器的設(shè)計(jì)考慮

 

上部MOSFET管在開(kāi)關(guān)的瞬態(tài)過(guò)程中產(chǎn)生明顯的開(kāi)關(guān)損耗,同時(shí)MOSFET導(dǎo)通電阻Rds(on)也將產(chǎn)生的導(dǎo)通損耗,。平均導(dǎo)通損耗與占空比和導(dǎo)通電阻Rds(on)成正比,。對(duì)于基于ATCA的通訊系統(tǒng),其輸入電壓為12V,,輸入輸出的電壓差大,,占空比小,因此導(dǎo)通損耗相對(duì)較小,,而開(kāi)關(guān)損耗占較大比例,。開(kāi)關(guān)損耗主要與開(kāi)關(guān)頻率及MOSFET在開(kāi)關(guān)過(guò)程中持續(xù)的時(shí)間成正比。開(kāi)關(guān)持續(xù)的時(shí)間與MOSFET漏柵米勒電容的直接相關(guān),。米勒電容小,,開(kāi)關(guān)持續(xù)時(shí)間短,則開(kāi)關(guān)損耗低,。因此,,對(duì)于上部MOSFET管的功率損耗,,必須同時(shí)考慮開(kāi)關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗。為降低導(dǎo)通電阻Rds(on),,MOSFET通常要采用大面積的晶圓,,這樣就可以得到多的小單元,多個(gè)小單元并聯(lián)后的總導(dǎo)通電阻Rds(on)就低,。但與此同時(shí),,這也會(huì)增加漏和柵的相對(duì)面積,從而增大漏和柵米勒電容,。

 

從波形可以看到,,對(duì)于下部MOSFET管在開(kāi)關(guān)的瞬態(tài)過(guò)程中,沒(méi)有產(chǎn)生明顯的開(kāi)關(guān)損耗,。通常MOSFET的關(guān)斷是個(gè)自然的0電壓的關(guān)斷,,因?yàn)樵贛OSFET的漏和源有個(gè)寄生的電容。由于電容的電壓不能突變,,所以在關(guān)斷的過(guò)程瞬態(tài)過(guò)程中,,漏和源電壓幾乎為0。這樣在關(guān)斷的過(guò)程中,,電壓與電流的乘積也就是關(guān)斷的功耗為0,。對(duì)于MOSFET,要想實(shí)現(xiàn)0電壓的開(kāi)關(guān)ZVS,,關(guān)鍵要實(shí)現(xiàn)其0電壓開(kāi)通,。

 

為防止上下管直通,同步降壓型變換器的上下管通常有個(gè)死區(qū)時(shí)間,。在死區(qū)的時(shí)間內(nèi),,上下管均關(guān)斷。當(dāng)上管關(guān)斷后,,由于輸出電感的電流不能突變,必須維持原來(lái)的方向流動(dòng),,所以下部功率MOSFET內(nèi)部寄生二管導(dǎo)通,。寄生二管導(dǎo)通后,下部MOSFET的漏和源的電壓為二管的正向壓降,,幾乎為0,,因此在寄生二管導(dǎo)通后,MOSFET再導(dǎo)通,,其導(dǎo)通是0電壓的導(dǎo)通,,開(kāi)通損耗為幾乎0。這樣下管是個(gè)0電壓 的開(kāi)關(guān),,開(kāi)關(guān)損耗幾乎0,。因此在下管中,,主要是由導(dǎo)通電阻Rds(on)形成導(dǎo)通損耗。下管的選取主要考慮盡量選用低導(dǎo)通電阻Rds(on)的產(chǎn)品,。

 

此外,,為減小在死區(qū)時(shí)間內(nèi)體內(nèi)寄生二管產(chǎn)生的正向壓降功耗和反向恢復(fù)帶來(lái)的功耗,通常會(huì)并聯(lián)個(gè)正向壓降低,、反向恢復(fù)時(shí)間短的肖特基二管,。過(guò)去主要是在下管MOSFET的外部并聯(lián)個(gè)肖特基二管,現(xiàn)在通常將肖特基二管集成在下部MOSFET管內(nèi)部,。起初是將個(gè)單的肖特基二管和個(gè)MOSFET封裝在起,,后來(lái)是將它們做在個(gè)晶圓上。將個(gè)晶圓分成二個(gè)區(qū),,個(gè)區(qū)做MOSFET,,個(gè)區(qū)做肖特基二管。

 

二管具有負(fù)溫度系數(shù),,并聯(lián)工作不太,。在個(gè)晶圓上分成二個(gè)區(qū)做MOSFET和肖特基二管,那么肖特基二管在與MOSFET交界的區(qū)域溫度,,而離MOSFET較遠(yuǎn)的區(qū)域溫度低,。當(dāng)肖特基二管溫度時(shí),流過(guò)大的電流,,因此與MOSFET交界的肖特基二管區(qū)域的溫度將進(jìn)步上升,,可能導(dǎo)致局部損壞。現(xiàn)在通常將肖特基二管的單元做到MOSFET的單元里面,,這樣可能得到好的熱平衡,,提器件。

 


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