ED400渦流測(cè)厚儀是ED300測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能大幅度提高,。上海京工專業(yè)銷售各類,，多年銷售經(jīng)驗(yàn)積累為您提供高效優(yōu)質(zhì)服務(wù)。
ED400渦流測(cè)厚儀
ED400渦流測(cè)厚儀是ED300渦流測(cè)厚儀的改進(jìn)型,，儀器性能大幅度提高,。
儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度,。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料,、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度,。采用磁性測(cè)厚方法,，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如：鋼、鐵,、鎳）上非磁性覆層的厚度（如：鍍鋅,、鉻、油漆,、電泳,、琺瑯、橡膠,、粉未,、搪瓷、防腐層等）,，本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造,、金屬加工、化工,、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域,。
沈陽(yáng)天星ED400適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速,、無(wú)損的膜厚檢查,，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn),。
儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
儀器特點(diǎn)
ED400渦流測(cè)厚儀與ED300型相比,，具有如下特點(diǎn)：
＊量程寬 ED400量程達(dá)到0～500μm,。
＊精度高 ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。
＊分辨率高 ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm,。
＊校正簡(jiǎn)便 只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn),，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
＊探頭線壽命長(zhǎng) 采用德國(guó)進(jìn)口的,，在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線,，探頭線壽命可大大延長(zhǎng)。
＊探頭芯壽命長(zhǎng) 采用高強(qiáng)度磁芯材料,，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng),。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后,，使用者可自行更換備用探頭,。儀器無(wú)需返廠維修。
＊基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金,、紫銅,、黃銅時(shí)，測(cè)量誤差不大于1～2μm,。
＊可靠性提高 采用高集成度,、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,，儀器可靠性提高,。
＊穩(wěn)定性提高 采用*溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小,。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用,。
ED400渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍： 0～500μm
測(cè)量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm,、
50～500μm：1μm,；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
ED400渦流測(cè)厚儀配置與選配
| ED400標(biāo)準(zhǔn)配置 主機(jī) 1臺(tái)
探頭 1支
基體 1塊（6063合金）
校正箔片 1片（約50μm，附檢測(cè)報(bào)告）
使用說(shuō)明書(shū) 1份
合格證 1份
保修單 1份
手提式儀器箱1個(gè) | 可選附件 備用探頭
基體
校正箔片（約50μm,，附檢測(cè)報(bào)告） |
影響的一些可能因素：
基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中,，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響,，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)進(jìn)行校準(zhǔn),；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬厚度
每一種都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,。大于這個(gè)厚度,，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1,。
曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的,。
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