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SANKO膜厚儀UNIBOY-M|三高膜厚儀UNIBOY-M
測量原理　　采用磁感應(yīng)原理時,，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,，

磁感應(yīng)膜厚儀

來測定覆層厚度,。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,，來表示其覆層厚度,。覆層越厚,，則磁阻越大,，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀,，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度,。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）,。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,，測量感應(yīng)電動勢的大小,，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻,、鎖相,、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號,。還采用設(shè)計的集成電路,，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀,，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%,，量程達(dá)10mm,。

　　磁性原理測厚儀可應(yīng)用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷,、搪瓷防護(hù)層,，塑料、橡膠覆層,，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

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編輯本段電渦流測量原理

　　高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,，測頭靠近導(dǎo)體時,，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近,，則渦流愈大,，反射阻抗也愈大。這個反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小,。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭,。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,，主要區(qū)別是測頭不同,，信號的頻率不同，信號的大小,、標(biāo)度關(guān)系不同,。與磁感應(yīng)測厚儀一樣,，渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%,，量程10mm的高水平,。

　　采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量,，如航天器表面,、車輛、家電,、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,，塑料涂層及陽極氧化膜,。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）,。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適

　　簡單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。

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　　具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽（氯化鈉=NaCl）時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉（Na）和氯（Cl）構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉（NaCl）的結(jié)晶構(gòu)成,。單純地看也許會認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置（XRD為好,但當(dāng)測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進(jìn)行定性,。

厚儀，又叫膜厚計,、膜厚測試儀,，分為磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀,，熒光X射線儀鍍層測厚儀,。采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,，來測定覆層厚度,。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度,。

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深圳市安川測量儀器有限公司

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編輯本段電渦流測量原理

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