SANKO膜厚儀UNIBOY-M|三高膜厚儀UNIBOY-M
測量原理　　采用磁感應原理時,，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,，

來測定覆層厚度,。也可以測定與之對應的磁阻的大小,，來表示其覆層厚度,。覆層越厚,，則磁阻越大，磁通越小,。利用磁感應原理的測厚儀,，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上,。如果覆層材料也有磁性,，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,，儀器自動輸出測試電流或測試信號,。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小,，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度,。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相,、溫度補償?shù)鹊匦录夹g,，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設計的集成電路,，引入微機,，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）。現(xiàn)代的磁感應測厚儀,，分辨率達到0.1um,，允許誤差達1%，量程達10mm,。

　　磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層,，瓷、搪瓷防護層,，塑料,、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層,。

編輯本段電渦流測量原理

　　高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導體時,，就在其中形成渦流,。測頭離導電基體愈近,，則渦流愈大，反射阻抗也愈大,。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,，所以通常稱之為非磁性測頭,。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料,。與磁感應原理比較,，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同,，信號的大小,、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣,，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,，允許誤差1%，量程10mm的高水平,。

　　采用電渦流原理的測厚儀,，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天器表面,、車輛、家電,、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,，通過校準同樣也可測量,，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體,，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適

　　簡單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息,。

　　具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽（氯化鈉=NaCl）時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉（Na）和氯（Cl）構成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉（NaCl）的結(jié)晶構成。單純地看也許會認為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置（XRD為好,但當測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進行定性,。