產品名稱：四探針導體半導體電阻率測量儀

產品型號：DT406- SB100A-2

關 鍵 詞：四探針導體半導體電阻率測量儀 金屬半導體電阻率測量儀 導體半導體金屬薄膜材料電阻測試儀

DT406-SB100A/2為原SB100/1及SB100A/1的改進型,。

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法,。為了滿足實際的需要,，本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體,、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量,。可用于高校物理教育實驗,，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻及電阻率的測試及研究,。本產品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。

（使用環(huán)境5—40℃,，相對濕度<80%,，供電220V50Hz，為實驗室環(huán)境使用）

SB100A/2由SB118直流電壓電流源,、PZ158A直流數字電壓表,、SB120/2四探針樣品測試平臺三部分組成。

lSB118直流電壓電流源：是一臺4½位的電壓源及電流源,，既可輸出5µV—50V,，5檔可調電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA,，5檔可調電流,，基本誤差為±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產品SB118,。

lPZ158A直流數字電壓表：具有6½位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術的高精度電子測量儀器,，可測量0-1000V直流電壓,。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS）,，詳見本公司產品PZ158A,。

lSB120/2四探針樣品測試平臺：該測試平臺是SB120/1測試平臺的改進型。其有底座,、支架,、旋動部件、樣品平臺,、四探針及接線板等組成,。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進，故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試,、研究提供了較大的方便,。

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