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日本AITEC艾泰克線性薄型隧道光LLSD-N系列
- 公司名稱 成都藤田光學(xué)儀器有限公司
- 品牌 AITEC/艾泰克
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/7/7 13:55:19
- 訪問(wèn)次數(shù) 15
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日本HOYA豪雅(UV固化燈,玻璃鏡片),日本MUSASHI武藏(點(diǎn)膠機(jī)),,日本KANOMAX加野(粒子計(jì)數(shù)風(fēng)速儀),,日本FLUORO福樂(lè)(用于晶圓的搬 運(yùn)),,日本AND艾安得(電子天平)
光源種類 | 紅外光源 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 | 照射方式 | 外照式 |
日本AITEC艾泰克線性薄型隧道光LLSD-N系列
日本AITEC艾泰克線性薄型隧道光LLSD-N系列
產(chǎn)品核心定位
AITEC艾泰克LLSD-N系列是面向工業(yè)檢測(cè)研發(fā)的第四代超薄線性照明系統(tǒng),憑借18mm的厚度與模塊化拼接技術(shù),,成功解決了精密電子制造領(lǐng)域的光學(xué)檢測(cè)空間限制問(wèn)題,。該系統(tǒng)通過(guò)日本JIS C 8105-1光學(xué)認(rèn)證,已在全球超過(guò)200條SMT產(chǎn)線實(shí)現(xiàn)規(guī)?;瘧?yīng)用,。
技術(shù)創(chuàng)新亮點(diǎn)
復(fù)合光學(xué)架構(gòu)
采用三層納米級(jí)擴(kuò)散膜與微棱鏡導(dǎo)光板組合設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)92%照度均勻性(實(shí)測(cè)數(shù)據(jù))
雙波長(zhǎng)技術(shù):6500K高顯色白光(CRI≥95)與850nm紅外模式一鍵切換
邊緣光補(bǔ)償算法消除拼接模塊間的亮度斷層
工業(yè)級(jí)可靠性
航空級(jí)鋁合金殼體配合石墨烯散熱層,,溫升控制在Δ15℃以內(nèi)
IP65防護(hù)等級(jí)(可選IP67),,耐受振動(dòng)環(huán)境(5-500Hz/3G)
支持24小時(shí)連續(xù)工作模式,MTBF超50,000小時(shí)
智能控制系統(tǒng)
內(nèi)置PLC通信協(xié)議(Modbus RTU/TCP)
同步觸發(fā)延遲<0.5ms,,匹配200mm/ms高速產(chǎn)線
可選配AI調(diào)光模塊,,自動(dòng)匹配不同材質(zhì)反射率
典型應(yīng)用案例
微型電子元件檢測(cè)在0201封裝元件外觀檢測(cè)中,系統(tǒng)成功識(shí)別0.15mm的焊錫橋接缺陷,,某日系汽車電子廠商不良率降低67%
柔性電路板質(zhì)檢通過(guò)多模塊拼接實(shí)現(xiàn)600mm寬幅FPC檢測(cè),,光強(qiáng)波動(dòng)控制在±2%以內(nèi),替代傳統(tǒng)3組環(huán)形光源方案
透明材料成像應(yīng)用于手機(jī)玻璃蓋板檢測(cè)時(shí),,紅外模式可穿透0.3mm厚度玻璃,,準(zhǔn)確捕捉內(nèi)部微裂紋
技術(shù)服務(wù)支持
提供免費(fèi)的光學(xué)模擬測(cè)試服務(wù)(48小時(shí)出具報(bào)告),配套AIVision Pro軟件可實(shí)現(xiàn)照明參數(shù)云端管理?,F(xiàn)有12種標(biāo)準(zhǔn)尺寸庫(kù)存(最長(zhǎng)3米),,特殊波長(zhǎng)(如365nm UV)定制周期僅10個(gè)工作日。