nanoIR3-s 納米紅外掃描近場(chǎng)光譜和成像系統(tǒng)Anasys
- 公司名稱 上海富瞻環(huán)保科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號(hào) nanoIR3-s
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/7/4 17:38:12
- 訪問次數(shù) 34
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器類型 | 實(shí)驗(yàn)室型 |
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儀器種類 | 傅立葉變換型(FT) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥 |
nanoIR3-s納米紅外掃描近場(chǎng)光譜和成像系統(tǒng)Anasys
核心參數(shù)
儀器種類:傅立葉變換型 儀器類型:實(shí)驗(yàn)室型
波數(shù)范圍:900-3600cm-1 分辨率:空間分辨率10nm, 光譜分辨率<1cm-1
掃描速度:10s/spectra 信噪比:200:1
產(chǎn)品介紹
簡介
nanoIR2-s是2015年Anasys發(fā)布的最新一代納米紅外光譜系統(tǒng),新增了散射近場(chǎng)光學(xué)成像和光譜功能(s-SNOM),,在同一平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)了AFM-IR和s-SNOM兩種技術(shù),。該設(shè)備的空間分辨率高達(dá)10nm,適用于聚合物,、復(fù)合材料,、生物樣本、半導(dǎo)體,、等離子體,、納米天線等領(lǐng)域。其AFM-IR技術(shù)確保與FTIR光譜一致,,而s-SNOM則通過金屬鍍層AFM探針提升光輻射,,并具備光路自動(dòng)優(yōu)化功能。儀器獲得多家機(jī)構(gòu)認(rèn)可,,且操作簡便,,同時(shí)支持多種AFM測(cè)量模式,。
l AFM-IR 消除分析化學(xué)研究人員的擔(dān)憂--與FTIR光譜吻合,沒有吸收峰的任何偏移
l s-SNOM使用金屬鍍層AFM探針代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強(qiáng)和散射樣品納米區(qū)域內(nèi)的光輻射,,空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定
l 技術(shù)實(shí)現(xiàn)智能的光路優(yōu)化調(diào)整,,無需擔(dān)心光路偏差拖延你的實(shí)驗(yàn)進(jìn)度
l 最準(zhǔn)確的定性微區(qū)化學(xué)表征,得到美國國家標(biāo)準(zhǔn)局NIST, 橡樹嶺國家實(shí)驗(yàn)室等機(jī)構(gòu)的認(rèn)可
l 簡單易用的操作,,被三十多位企業(yè)用戶和近百位學(xué)術(shù)界所選擇
l 基于DI傳承的多功能AFM實(shí)現(xiàn)納米熱學(xué),力學(xué),,電學(xué)和磁學(xué)測(cè)量:
l 納米熱分析模塊(nanoTA, SThM)
l 洛侖茲接觸共振模塊(LCR)
l 導(dǎo)電原子力顯微鏡鏡(CAFM)
l 開爾文電勢(shì)顯微鏡(KPFM)
l 磁力顯微鏡(MFM)
l 靜電力顯微鏡(EFM)