HORIBA堀場Duetta HORIBA堀場熒光光譜儀優(yōu)化設(shè)計(jì)
參考價(jià) | ¥ 100000 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 美薩科技(蘇州)有限公司
- 品牌 HORIBA/堀場
- 型號 HORIBA堀場Duetta
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/6/20 11:00:04
- 訪問次數(shù) 18
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
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HORIBA堀場熒光光譜儀優(yōu)化設(shè)計(jì)Duetta™ 熒光光譜儀同時(shí)結(jié)合了熒光光譜儀和吸收光譜儀的功能,。它標(biāo)配超快先進(jìn)的 CCD 技術(shù),能在 100 毫秒內(nèi)獲得 250 nm-1100 nm的全范圍光譜,讓它的采集速度數(shù)倍優(yōu)于其他使用 PMT 的熒光光譜儀,。
同步吸收 - 熒光光譜儀
UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍 250 nm-1100 nm
一秒內(nèi)獲取三維熒光全譜
高熒光靈敏度,,水拉曼 RMS 6000:1
自動校準(zhǔn)主次內(nèi)濾效應(yīng)
先進(jìn)的 A-TEEM ™ 指紋熒光技術(shù),高保真識別分子指紋
CCD 檢測器實(shí)現(xiàn)毫秒內(nèi)完成整個熒光光譜采集
HORIBA堀場熒光光譜儀優(yōu)化設(shè)計(jì)熒光及吸收合二為一的光譜儀 !
Duetta 可作為熒光光譜儀使用,,也可以作為 UV-Vis-NIR 光譜儀 測量吸光度,,或用于測量真實(shí)的分子指紋,這需要同步獲取 熒光和吸光度,,同時(shí)進(jìn)行內(nèi)濾效應(yīng)校正,。
瞬間獲得熒光光譜!
Duetta 標(biāo)配超快先進(jìn)的 CCD 技術(shù),讓它在采集速度的數(shù)倍優(yōu)于任何使用 PMT 的熒光光譜儀,。Duetta 是少見的能在 100 毫秒內(nèi) 獲得 250 nm-1100 nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀,。這一先進(jìn)的 CCD 技術(shù)也將近紅外檢測光譜范圍擴(kuò)展到 1100 nm, 遠(yuǎn)超過標(biāo)準(zhǔn) PMT 熒光儀的光譜范圍,。
高靈敏度
經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)的 Duetta,,擁有高水平的靈敏度,意味著可測更低濃度的樣品,,并提供更準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)
EzSpec™ 觸屏操作軟件!
Duetta 使用 HORIBA 新一代 EzSpec 軟件,,使熒光光譜儀從此進(jìn)入了智能觸屏?xí)r代,生動立體的人機(jī)互動,,量身定制的用戶體驗(yàn),;升級常規(guī)分析用軟件模塊,可具有定制化,、個性化分析測試,。
各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇),、AND愛安得(電子天平),、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥) HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚(膜厚儀、粒度儀),Hitachi日立(掃描電鏡),MIKASA米卡薩(旋涂設(shè)備,、顯影),、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克(檢查光源),、Iwasaki巖崎,、OTSUKA大塚電子(光學(xué)膜厚儀)、KOSAKA小坂(臺階儀),、HORIBA堀場儀器(分析儀),、SIBATA柴田科學(xué)(環(huán)境測定)、TORAY東麗濃度儀(氧氣分析儀),、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈,、CEDAR思達(dá)
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