HORIBA堀場XploRA Nano HORIBA堀場拉曼光譜儀易用簡單
參考價 | ¥ 100000 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 美薩科技(蘇州)有限公司
- 品牌 HORIBA/堀場
- 型號 HORIBA堀場XploRA Nano
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/6/17 14:05:26
- 訪問次數(shù) 40
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
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HORIBA堀場拉曼光譜儀易用簡單
這是一套基于業(yè)界掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng),。
XploRA Nano系統(tǒng),,緊湊、全自動,、易于使用,,這是一套已經(jīng)得到證實了的經(jīng)濟適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng),它幫助大家實現(xiàn)TERS成像,。
HORIBA堀場拉曼光譜儀易用簡單
多樣品分析平臺
宏觀,、微觀和納米尺度的測量可以在同一個平臺上進行
簡單易用
全自動操作,在幾分鐘內(nèi)即可開始測量,,而不是幾小時,!
真正的共聚焦
高空間分辨率,自動樣品臺,,全顯微鏡可視化,。
高收集效率
頂部和側(cè)向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區(qū)域和針尖增強光譜測量(TERS和TEPL)
高光譜分辨率
高光譜分辨能力,多光柵自動切換,,寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析,。
高空間分辨率
針尖增強的納米級光譜分辨率(優(yōu)于10nm)
豐富的光學(xué)光譜(拉曼和光致發(fā)光)
多技術(shù)/多環(huán)境
結(jié)合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM、導(dǎo)電和電學(xué)模式(cAFM,、KPFM),、STM、液池和電化學(xué)環(huán)境,。一個工作站和強大的軟件即可對兩臺儀器進行控制,,SPM和光譜儀可以同時或獨立操作。
堅固性/穩(wěn)定性
高共振頻率AFM掃描器,,遠離噪音干擾,!高性能表現(xiàn),無需主動隔振系統(tǒng),。
各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇),、AND愛安得(電子天平)、SAN-EI三英(點膠閥) HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚(膜厚儀,、粒度儀),Hitachi日立(掃描電鏡),MIKASA米卡薩(旋涂設(shè)備,、顯影)、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克(檢查光源),、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子(光學(xué)膜厚儀)、KOSAKA小坂(臺階儀),、HORIBA堀場儀器(分析儀),、SIBATA柴田科學(xué)(環(huán)境測定)、TORAY東麗濃度儀(氧氣分析儀),、yamada山田鹵素強光燈,、CEDAR思達