Otsuka大塚 液晶層間隙量測設(shè)備易使用產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置,，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策,，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測量項目...
Otsuka大塚 液晶層間隙量測設(shè)備易使用● 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器
● 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板
● 安全對策和粒子對策,，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
● 封入cell gap
● twist角 *
● rubbing角 *
● pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］ *
● 空cell gap *
● 相位差（復(fù)折射相位差）的波長分散 *
● 光學(xué)軸 *
● 橢圓率/方位角 *
● 三次元折射率/Rth/β*
● 分光光譜/色度*

● 液晶cell
　-　透過,、半透過型液晶cell（TFT、TN,、STN,、IPS、VA,、OCB,、強感應(yīng)電）
　-　反射型液晶cell（TFT、TN,、IPS,、VA）
● 光學(xué)材料
　-　其他（相位差、橢圓,、偏光膜,、液晶材料）

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風扇),、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀,、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備,、顯影）、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎,、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）,、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）,、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）,、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強光燈,、CEDAR思達