HITACHI日立是一家全球性的日立公司,，通過互聯(lián)材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續(xù)，這些解決方案使生產(chǎn)和開發(fā)過程更加高效,、自動化和綠色,，以確保產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性和合規(guī)性,。我們提供實(shí)驗(yàn)室級和強(qiáng)大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀,、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）,、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）,、熱分析儀、鋰電池異物分析儀,、油品分析儀,、土壤分析儀等。

低雜散光,、超大測光范圍

采用Czerny-Turner高光量單色器和新研發(fā)的光柵,，實(shí)現(xiàn)了同級別設(shè)備最佳的低雜散光/超大測光范圍

*依據(jù)日立高新技術(shù)公司的調(diào)查結(jié)果,，截至2019年4月日本的在售型號（支持測定近紅外波長區(qū)域,、具有單色器）

低噪音,、寬測定波長范圍

采用連續(xù)可變狹縫，在近紅外波長區(qū)測定低光量時,，自動加寬狹縫,；測定高光量時，自動減小狹縫寬度,。支持低噪音測定超大范圍波長區(qū)域,。

采用全新的數(shù)據(jù)處理軟件，操作更加便捷

新數(shù)據(jù)處理軟件在深受用戶好評的UV Solutions上作了進(jìn)一步的技術(shù)升級,。新增了數(shù)據(jù)表和數(shù)據(jù)處理結(jié)果的列表顯示功能,、報告格式的自定義功能、儀器性能檢查功能,。

提供豐富的配件,，支持液體到固體樣品的測定

各種配件很全，滿足分光光度計的多種測定需求,，如溶液中微量樣品的測定和片狀樣品,、薄膜樣品等材料樣品的測定等。

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇),、AND愛安得（電子天平）,、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備,、顯影）,、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）,、Iwasaki巖崎,、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）,、HORIBA堀場儀器（分析儀）,、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）,、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈,、CEDAR思達(dá)