品智創(chuàng)思 芯片平整度測試儀簡介

通過線激光對芯片有焊錫球及的表面，或者IC上的引腳面進行掃描,，采集出三維點集數(shù)據(jù),，并由軟件處理生成工件的3D圖形，通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球的高點或者低點,，再用所有高點或者低點生成一個平面,，并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。設備采用固定龍門式XYZ三軸運動結構，內部主體框架為大理石,，可以保證穩(wěn)定的力學結構,。托盤和被測工件可放在工作臺玻璃上，前后運動至測量區(qū)域,，線掃激光頭和視覺物鏡組合體可以沿著左右運動掃描測量,，并可以上下調焦以便適應不同高度面的測量。

品智創(chuàng)思 芯片平整度測試儀的應用

廣泛應用于晶元,、芯片（DIP,、SOP、QFP,、QFN,、BGA、LGA,、PGA）等共面性檢測,，機械制造、電子,、汽車,、五金、塑料,、模具等行業(yè),，可以對工件尺寸、形狀和位置公差進行精密檢測,，從而完成自動拾取,、自動分選、零件檢測,、外形測量,、過程控制等任務。

產品原理

通過線激光對芯片有焊錫球及引腳的表面進行掃描,，采集出三維點云數(shù)據(jù),，并由軟件處理生成工件的3D圖形，通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球或引腳的最高點,，再用所有最高點生成一個平面,，并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。