Mg基體,、Co基體等基體要求,，是金屬元素分析的較優(yōu)選擇,。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素,，方便在用戶現(xiàn)場補(bǔ)充配置

儀器體積小巧,，對實(shí)驗(yàn)室空間要求低

工作時間長，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測試速度快,，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護(hù)簡單,、方便，對人員專業(yè)要求低

原廠安裝分析程序,，測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,，適用合金牌號齊全

配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測試過程安全,、環(huán)保

技術(shù)優(yōu)勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析,，快速、準(zhǔn)確,、穩(wěn)定,、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā),、工藝控制,、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求,，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的設(shè)備,。

全譜檢測測試各種金屬和元素

基于CMOS檢測器全譜測試技術(shù)，測試各種金屬中元素的譜線,，方便實(shí)現(xiàn)多基體,、多元素的測試,。

配置和補(bǔ)充測試基體、通道,、分析程序極為方便,，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素、分析程序,。

國際頂級供應(yīng)商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造,，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測器——CMOS探測器由日本濱松制造,，確保譜線檢測靈敏,、低噪聲

光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫,。

由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移,。除特殊維護(hù)，平時保養(yǎng)一般不需進(jìn)行描跡,。

同時檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定,。

快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預(yù)處理樣品置于樣品臺后,，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結(jié)果,。

可根據(jù)客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵,、有色金屬材料中常見元素含量,。

專業(yè)的測試方案

長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵,、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案,。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求,。

分析程序由原廠采用國際,、國家標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合,、校正,。

用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品,。

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70%

電    源：220±5V,，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實(shí)驗(yàn)室無震動,、粉塵,、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流,、腐蝕性氣體

技術(shù)性能及指標(biāo)

1.   分光室設(shè)計(jì)

  帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm

  波長范圍140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒溫33℃±0.2℃

  特殊材質(zhì)鑄造,，保證光室形變小

  間歇式真空系統(tǒng),，可保證真空泵運(yùn)行時間小于5%

2.   凹面光柵

  刻線密度3600l/mm

  光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

  高性能線陣CMOS

4.   分析時間

  依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

  全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)

  高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)

  頻率100-1000Hz

  電流1-80A

6.   激發(fā)臺

  3mm樣品臺分析間隙

  噴射電極技術(shù)

  特殊設(shè)計(jì)的氣路系統(tǒng),，保證低氬氣消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 長900mm 寬600 mm

  120 kg

8.   功率

  大功率1500W

  待機(jī)功率70W