二手 日本電子 IT-500掃描電鏡JSM-IT500掃描電子顯微鏡

性能介紹

■ 利用 Zeromag 進行快速導(dǎo)航

■ Live Analysis在圖像觀察過程中進行實時分析

■ SMILE VIEW LAB 能綜合管理 SEM 圖像 & EDS 分析數(shù)據(jù)

■ 安全、簡便 的樣品交換導(dǎo)航

日常分析更迅速,！更簡便 !

從安裝樣品到生成報告,，實時分析軟件使分析過程無縫連貫，作業(yè)速度更快,，操作更加簡便,。

■ Zeromag

從樣品架示意圖或者CCD圖像上尋找視野和分析位置。

可以快速地尋找視野 , 簡便地預(yù)約多個視野連續(xù)分析的位置,。

■ Live Analysis （ 實時分析）

觀察過程中的 EDS 分析

在觀察過程中可以隨時實時顯示分析區(qū)域內(nèi)的特征 X 射線譜圖,、自動定性分析結(jié)果和主要構(gòu)成元素。

還可以標記“Alert”到感興趣的元素上,。

■ 數(shù)據(jù)集中管理軟件 SMILE VIEWTM Lab

通過數(shù)據(jù)管理圖標或獲取的數(shù)據(jù)一覽,，顯示數(shù)據(jù)管理畫面后，可以重新查看或再次分析數(shù)據(jù),，還可以一鍵生成報告,。

利用用戶日志也可以分別管理數(shù)據(jù)。由于數(shù)據(jù)相互聯(lián)動,，進行重構(gòu)也很簡單,。

二手 日本電子 IT-500掃描電鏡  是一款掃描電鏡，它只需很少的步驟就能獲取高倍率圖像,。

● 二次電子圖像

利用高真空二次電子像觀察鐵銹的表面,，在高倍率下可以觀察到細微的表面形貌。

● 背散射電子圖像

下圖是硬質(zhì)合金截面的背散射電子成分像,，在低電壓的背散射電子模式下可以觀察每個碳化鎢顆粒的晶體取向（通道襯度）差異,。

● 選擇掃描系統(tǒng)可獲取畫質(zhì)更好的低加速電壓圖像

可以選擇快速幀累積的掃描系統(tǒng)來減少樣品的放電現(xiàn)像。因此 ,即使在低加速電壓下觀察容易荷電或易受電子束損傷的樣品，也能容易地獲取高倍率圖像,。

低真空模式

在物鏡附近進行差動抽氣顯著提高了低真空模式下的圖像質(zhì)量,。此外，低真空模式的最大壓力可高達 650 Pa, 進一步擴大了應(yīng)用范圍,。

超低真空圖像

含有大量水分的軟樣品會因為樣品室內(nèi)的壓力而無法保持原有的結(jié)構(gòu),。從前對這樣的樣品不進行特殊處理就無法觀察。當?shù)驼婵諌毫Ψ秶鷶U展到 650 Pa 時,，即使沒有特殊處理也可以在對樣品損傷很小的情況下進行觀察,。

SEM 觀察界面

在 SEM 觀察界面上可以確認到正在觀察的譜圖和主要元素。

各個分析區(qū)域都與對應(yīng)的樣品臺坐標關(guān)聯(lián),，并且顯示在樣品架示意圖上或者 CCD 圖像 上,。

● EDS

X 射線能譜儀 (EDS) 是安裝在掃描電鏡 (SEM) 的附件，通過檢測電子束照射時樣品產(chǎn)生的特征 X 射線,，從而進行元素分析,。

詳細分析顯示界面

切換到詳細分析顯示界面后可以進行譜圖解析以及元素面分布分析等。

即使在分析期間,，也可以從已經(jīng)獲取的數(shù)據(jù)中生成報告,。