臺(tái)式孔面銅測(cè)試儀  型號(hào)：DP-T70

1.臺(tái)式孔面銅測(cè)試儀 產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

DP-T70適用于印制線路板孔內(nèi)及表面銅層厚度的非破壞性測(cè)量,本儀器有高的多功能性,，它集快速精確、簡(jiǎn)單易用,、質(zhì)量可靠等一體,，同時(shí)它也是為測(cè)量剛性及柔性、單層,、雙層或多層印刷電路板上的電鍍銅測(cè)量而設(shè)計(jì),。

2、產(chǎn)品功能和特點(diǎn)：

1) 孔銅測(cè)試和面銅鍍層厚度測(cè)試一體式設(shè)計(jì),，一機(jī)多用,，性價(jià)比高。

2) 孔銅測(cè)試采用電渦流原理實(shí)現(xiàn)孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確的測(cè)量,，快速無(wú)損的測(cè)量孔內(nèi)鍍層厚度,。

3) 面銅測(cè)試采用微電阻方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅準(zhǔn)確的測(cè)量，無(wú)需破壞樣品,。

4) 10.1 寸觸控式彩色屏幕,，操作界面輕松上手。

5) 孔銅面銅測(cè)試時(shí)間均有溫度補(bǔ)償功能,，所測(cè)數(shù)據(jù)穩(wěn)定性高,。

6) 內(nèi)置工業(yè)控制 PC 電腦，無(wú)限制（硬盤儲(chǔ)存大小決定）應(yīng)用程序和儲(chǔ)存數(shù)據(jù)要求,。

7) 孔銅采用測(cè)試探頭,，并且可以自用更換。

8) 面銅采用可更換探針設(shè)計(jì),，單獨(dú)更換探針,，節(jié)省成本。

9) 面銅探針有多種間距可選,，根據(jù)測(cè)試面積大小,，可以進(jìn)行選擇更換。

10) 全電腦軟件界面操作,，孔銅和面銅測(cè)試快速切換,。

11) 具有高的可擴(kuò)展性，可以直接進(jìn)行擴(kuò)展 MES 連接,，自定義報(bào)表統(tǒng)計(jì),，打印，保存等,。

12) 測(cè)試頭采用快速插拔式接頭設(shè)計(jì),，更換簡(jiǎn)單易操作,。

13) 出廠預(yù)設(shè)校準(zhǔn)程序，并且可以獨(dú)立設(shè)定孔銅校準(zhǔn)程序和面銅校準(zhǔn)程序,。

14) 可以設(shè)定校準(zhǔn)因子,，補(bǔ)償，銅的電導(dǎo)率等參數(shù),，以符合產(chǎn)品規(guī)格與標(biāo)準(zhǔn)。

15) 測(cè)量單位可以公制,，英制進(jìn)行轉(zhuǎn)換,。

16) 中英文操作界面，方便使用,。

17) 儀器采用輕質(zhì)鋁合金全金屬外殼,，并進(jìn)行陽(yáng)極氧化處理，堅(jiān)固耐腐蝕,。

面銅測(cè)試原理 

面銅測(cè)試采用微電阻測(cè)試技術(shù),，利用四根接觸式探針在表面銅箔上產(chǎn)生電信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，當(dāng)探頭接觸銅箔樣品時(shí),，恒定電流通過(guò)外側(cè)兩根探針,，而內(nèi)側(cè)兩根探針測(cè)得該電壓的變化值。根據(jù)歐姆定律電壓值被轉(zhuǎn)換為電阻值,，利用一定的函數(shù),，計(jì)算出厚度值，不受絕緣板層和線路板背面銅層影響,。

孔銅測(cè)試原理

應(yīng)用電渦流測(cè)試技術(shù),。測(cè)量時(shí)利用探頭釋放出電磁波，當(dāng)磁場(chǎng)切割金屬層時(shí)會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)變化,，通過(guò)計(jì)算此變化量計(jì)算出孔壁銅厚度,。測(cè)量不受板內(nèi)層影響，即使是雙層板或多層板,，甚至在有錫或錫/鉛保護(hù)層的情況下,，同樣能夠良好工作。另外,，探頭采用溫度補(bǔ)償技術(shù),，即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板，也能測(cè)量孔銅厚度,。

技術(shù)參數(shù)

顯示屏 10.1 寸彩色 IPS-觸摸屏

單 位 可切換公制(um)及英制(mils)單位選擇,。

連接口 VGA 接口，RJ-45 千兆網(wǎng)絡(luò)接口,，2*USB2.0 接口,，孔銅探頭接口,，面銅探頭接口

統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 量測(cè)點(diǎn)數(shù)、平均值,、極差,、高值、低值等,。

儲(chǔ)存量 根據(jù)硬盤大小,，可以無(wú)限制儲(chǔ)存程序和測(cè)試記錄文件。

測(cè)試模式 可選擇單次,、連續(xù)測(cè)量模式,。

面銅準(zhǔn)確度 準(zhǔn)確度：5%，參考標(biāo)準(zhǔn)片,。

面銅測(cè)試范圍 0.2-500μm (0.008-19.69mil),。

面銅校準(zhǔn)方式 兩點(diǎn)校準(zhǔn)或者多點(diǎn)校準(zhǔn)，不需要切換測(cè)試檔案,，單個(gè)程序可以全量程覆蓋,。

面銅探頭 采用微電阻測(cè)試技術(shù)。

孔銅準(zhǔn)確度 5%,，參考標(biāo)準(zhǔn)片,。

孔銅分辨率 0.01 mils (0.25 μm)電渦流：孔銅精確度 1.2 mil 時(shí)，1.0% （典型情況下）,。

孔銅測(cè)量厚度范圍 1--105μm （0.04-- 4.13 mils）,。

孔徑范圍 Φ0.899 mm--Φ3.0 mm，孔小直徑Φ35 mils (Φ899 μm),。

校準(zhǔn)方式 單點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)片校正