三豐M PLAN APO NIR 50X紅外物鏡
- 公司名稱 北京榮興光恒科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2025/5/12 13:56:35
- 訪問次數(shù) 18
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
三豐M PLAN APO NIR 50X紅外物鏡
三豐M PLAN APO NIR 50X紅外物鏡
顯微鏡長工作距離物鏡|紅外物鏡
一,、M plan 95mm 長工作距離可見光通過物鏡：
名 稱 | 95mm長工作距離可見光通過物鏡 | 目鏡 | ||||||
數(shù)值孔徑 | 工作距離 | 焦距 | 分辨率 | 物理 | 物方視場 | 攝像頭 | 焦點深度 | |
N.A. | W.D. | f | R（μm） | ±Δp（μΜ） | （WF10/24） | 1/2" CCD | ±Δ（μΜ） | |
M Plan Apo HL 2X | 0.055 | 34.6 | 100 | 5 | 91 | ?12 | 2.4*3.2 | 221 |
M Plan Apo HL 5X | 0.14 | 45 | 40 | 2 | 14 | ?4.8 | 0.96*1.28 | 34.4 |
M Plan Apo L 10X | 0.28 | 34 | 20 | 1 | 3.5 | ?2.4 | 0.48*0.64 | 8.6 |
M Plan Apo HL 20X | 0.29 | 31 | 10 | 1 | 3.3 | ?1.2 | 0.24*0.32 | 5.8 |
M Plan Apo HL 50X | 0.42 | 20.5 | 4 | 0.7 | 1.6 | ?0.48 | 0.10*0.13 | 2.3 |
M Plan Apo HL 100X | 0.55 | 12.5 | 2 | 0.61 | 0.9 |
|
| 1.82 |
二、M plan 95mm 長工作距離紫外光通過物鏡（NUV物鏡）：
名稱 | 95mm長工作距離紫外光通過物鏡（NUV物鏡 ） | ||||||||
NA | WD | 焦距f’（m） | 分辨率R（μm） | 焦深±Δp（μm） | 視野（mm） | 視野（mm）CCD | 透過率 | 激發(fā)波 | |
NUV50X | 0.43 | 14.81 | 4 | 0.64 | 1.49 | Φ0.48 | 0.1x0.13 | 450nm~700nm70%以上345nm~365nm90%以上 | 波長355nm消色 |
NUV20X | 0.4 | 17.15 | 10 | 0.69 | 1.72 | Φ1.2 | 0.24x0.32 | 450nm~700nm70%以上345nm~365nm90%以上 | 波長355nm消色 |
NUV50X | 0.7 | 3.5 | 4 | 0.39 | 0.56 | Φ0.48 | 0.1x0.13 | 450nm~700nm70%以上345nm~365nm90%以上 | 波長355nm消色 |
三,、M plan 95mm 長工作距離紅外光通過物鏡（NIR物鏡）：
名稱 | M plan 95mm 長工作距離紅外光通過物鏡（NIR物鏡） |
| ||||||||
NA | 工作距離（WD） | 焦距f’（m） | 分辨率R（μm） | 焦深 | 視野（mm）φ24接眼 | 視野（mm） | 透過率 | 備注 | ||
20X | 0.45 | 17.4 | 10 | 0.61 | 1.36 | Φ1.2 | 0.24x0.32 | 450nm~700nm 70%以上,， 770nm~790nm 90%以上 | 激光波長780nm消色 | |
50X | 0.8 | 4.04 | 4 | 0.34 | 0.43 | Φ0.48 | 0.1x0.13 | 450nm~700nm 70%以上， 770nm~790nm 90%以上 | 激光波長780nm消色 | |
1.以上物鏡均為無限遠光學(xué)系統(tǒng),，復(fù)消色差平場物鏡,。中間鏡筒f'=200mm。
2.以上物鏡的齊焦距離均為95mm,。
3.以上物鏡的連接螺紋均為M26x0.706 （M26x1/36"）, 但可根據(jù)客戶需求進行定制 或通過轉(zhuǎn)接環(huán)連接,。
4.以上物鏡的“HL”標識為超長工作距離。
5.以上長工作距離物鏡配接視頻單筒連續(xù)變倍體視顯微鏡或工業(yè)檢測顯微鏡,， 廣泛應(yīng)用于各種相檢 測 ,，如電子行業(yè)的導(dǎo)電粒子、IC集成電路的微分子,、晶圓體等的檢測,。
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