BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位分析儀
- 公司名稱 廣東森德儀器有限公司
- 品牌 Bettersize/百特
- 型號(hào) BeNano 180 Zeta Max
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/4/8 21:45:40
- 訪問(wèn)次數(shù) 74
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電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-OES/ICP-AES，超聲波探傷儀,，傅里葉變換紅外光譜儀FITR,，熱重分析儀，實(shí)時(shí)活細(xì)胞成像系統(tǒng),，手持光譜儀,，直讀光譜儀，紫外分光光度計(jì),，核酸提取儀
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-30萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
納米粒度及Zeta電位分析儀基本性能指標(biāo)
粒徑檢測(cè)(動(dòng)態(tài)光散射法)
| 粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
| 最小樣品量 | 3 μL |
| 檢測(cè)角度 | 173 °+90 ° + 11.2° |
| 分析算法 | Cumulants,、通用模式、CONTIN,、NNLS |
沉降法粒度測(cè)試
| 檢測(cè)方法 | 沉降法 |
| 粒徑范圍 | 1μm-50μm |
| 檢測(cè)角度 | 0° |
| 樣品量 | 1-3ml |
Zate電位測(cè)試
| Zeta范圍 | 無(wú)實(shí)際限制 |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導(dǎo)率范圍 | 0 - ≥270 mS/cm |
| Zeta測(cè)試粒徑范圍 | 1 nm – >120 μm |
分子量測(cè)試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測(cè)試
| 測(cè)試能力 | 均方位移,、復(fù)數(shù)模量、彈性模量,、粘性模量,、蠕變?nèi)崃?/span> |
趨勢(shì)測(cè)試
| 模式 | 時(shí)間和溫度 |
濃度檢測(cè)
| 檢測(cè)方法 | LEDLS |
| 測(cè)試能力 | 體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度 |
折光率測(cè)試
| 檢測(cè)方法 | 楔形池樣品折射（無(wú)需示蹤粒子） |
| 檢測(cè)角度 | 0° |
| RI范圍 | 1.2-1.6 |
| 精度 | 優(yōu)于0.1% |
| 最小樣品量 | 380 μL |
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
| 激光器 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm（不同波長(zhǎng)激光器可選） |
| 相關(guān)器 | 快、中,、慢多模式,，最快25 ns采樣，最多 4000通道,，1011動(dòng)態(tài)線性范圍 |
| 檢測(cè)器 | APD （高性能雪崩光電二極管）+PD+CMOS |
| 光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%,，手動(dòng)或者自動(dòng) |
納米粒度及Zeta電位分析儀檢測(cè)參數(shù)
動(dòng)態(tài)光散射
●流體力學(xué)尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積,、面積和數(shù)量分布
●計(jì)算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學(xué)信息G*,，G‘，G“,，η*,，J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
透射
●透射濁度
● 顆粒物濃度
●液體折射率
●沉降法粒度和粒度分布測(cè)試
趨勢(shì)測(cè)試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試
靜態(tài)光散射
● 絕對(duì)分子量Mn、Mw,、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數(shù)A2
選配件
●動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式
BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端（FFF,、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,，依次流出,。通過(guò)檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào)，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào),，得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布,、分子量分布信息。
●BAT-1自動(dòng)滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,，尤其是環(huán)境pH,，不但影響Zeta電位的大小，而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào),。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用,，內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力,，可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試,，具有測(cè)試效率高、精確定量,、重復(fù)性好,、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,，避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn),。
●BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布,、時(shí)間,、溫度的不穩(wěn)定性變化,，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息,。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度,，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間,，縮短配方研制周期,。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因,。
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