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AM0 I-V電池自動(dòng)分選機(jī)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 德雷射科（廊坊）科技有限公司
品牌 德雷射科
型號(hào)
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2025/4/1 13:24:01
訪問次數(shù) 49

產(chǎn)品標(biāo)簽

AM0 I-V電池分選機(jī)電池自動(dòng)分選設(shè)備 AM0 I-V分選機(jī)電池分選機(jī)

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公司介紹 主營產(chǎn)品

德雷射科專注于太陽電池（組件）I-V檢測(cè)設(shè)備研產(chǎn)銷,，近年來累計(jì)出貨超1600臺(tái),，產(chǎn)品遠(yuǎn)銷美國、英國,、澳大利亞等20多國,，服務(wù)晶科、晶澳等企業(yè),。其自主研發(fā)的逐次逼近（SAT）新型高效測(cè)試技術(shù)備受贊譽(yù),，應(yīng)用于中國計(jì)量院、TÜV北德,、TÜV南德,、CQC等檢測(cè)機(jī)構(gòu)，以及清華大學(xué),、浙江大學(xué),、電子科技大學(xué)、中科院研究所等高?？蒲薪虒W(xué)中,，有力推動(dòng)行業(yè)技術(shù)進(jìn)步。
在鈣鈦礦電池檢測(cè)設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域,，德雷射科推出大輻面LED,、氙燈穩(wěn)態(tài)I-V測(cè)試儀，已成功交付中國建材,、天合光能,、纖納、極電,、協(xié)鑫等眾多企業(yè)及實(shí)驗(yàn)室,，為鈣鈦礦電池產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供了關(guān)鍵的技術(shù)與設(shè)備保障 ,。
在航天及汽車領(lǐng)域,，德雷射科推出的AM0氙燈瞬態(tài)I-V測(cè)試儀，已應(yīng)用于上?？臻g院,、銀河航天、比亞迪等眾多企業(yè),，為航天事業(yè)的發(fā)展添磚加瓦,，彰顯了企業(yè)在檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域的技術(shù)實(shí)力和設(shè)備責(zé)任。

展開

太陽光模擬器,，穩(wěn)態(tài)模擬器,，大面積穩(wěn)態(tài)模擬器,，氙燈穩(wěn)態(tài)模擬器，LED穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器,，鈣鈦礦電池測(cè)試儀,，AM0太陽光模擬器，大面積太陽模擬器,，氙燈光源,，

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,電氣

AM0 I-V電池自動(dòng)分選機(jī)該設(shè)備主要用來模擬太陽光和采集晶硅光伏電池的伏安特性曲線，設(shè)備采用長弧脈沖氙燈瞬態(tài)光源,，光源等級(jí)滿足IEC60904-9 ed3 A+A+A+等級(jí),，可測(cè)量常規(guī)多晶、單晶Perc,、 Topcon,、BC、異質(zhì)結(jié)等高容性電池的I-V 曲線,，P-V 曲線,，輻照度線，短路電流,，開路電壓,，峰值功率，峰值功率點(diǎn)電壓,、電流,，填充因子，轉(zhuǎn)換效率,，串聯(lián)電阻,，并聯(lián)電阻等。

AM0 I-V電池自動(dòng)分選機(jī)主要產(chǎn)品參數(shù)

適配標(biāo)準(zhǔn)

Standard

ECSS-E-ST-20-08C Rev.1

光源類型

Light type

氙燈瞬態(tài)光源

Xenon lamp

光譜范圍

Spectrum wavelength

300-1800nm

光源等級(jí)

Classification of light source

光譜匹配度 0.75-1.25 A

輻照度不均勻度 ≤2% A

輻照度不穩(wěn)定度 ≤2% A

Spectral match is 0.75-1.25, class A

Irradiance non-uniformity is ≤2%, class A

Irradiance instability is ≤2%, class A

輻照度范圍

Irradiance intensity

1367W/㎡±10%

測(cè)試面積

Illumination area

? 2000*500mm

? 可定制其他尺寸

? 2000*500mm

? Other size can be customized

脈沖寬度

Pulse duration

10-100ms,，每1ms步進(jìn)可調(diào)

10-100ms, in step of 1ms

定位方式

Postioning

光學(xué)定位

Optical positioning

測(cè)試技術(shù)

Testing technology

標(biāo)配線性掃描,、高級(jí)遲滯算法、集成逐次逼近法（SAT）,、智能測(cè)試法（IAT）,、峰值保持測(cè)試功能

It is equipped with linear scanning, advanced magnetic hysteresis, successive approximation testing(SAT), Intelligent testing (IAT) and peak holding test function.

測(cè)試電池

Measurable Cell type

砷化鎵電池、多結(jié)砷化鎵電池

GaAs,、multijunction gallium arsenide solar cell

可增配項(xiàng)

Optional service

? EL測(cè)試系統(tǒng),，測(cè)試電池EL缺陷

? AOI測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試電池外觀缺陷

? 稱重系統(tǒng),，測(cè)量電池重量

? 膜厚測(cè)量,，測(cè)量電池片膜厚

? EL testing system can achieve IV and EL

testing at a same production section

? AOI test system, to test battery appearance

defects

? Weighing system, to measure battery

weight

? Film thickness measurement, to measure the

film thickness of the battery

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