全新日本AND內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼分析電子天平

全新日本AND內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼分析電子天平

規(guī)格

分析電子天平技術(shù)解析

一,、定義與核心原理

分析電子天平是一種基于電磁力平衡原理的高精度稱量?jī)x器,，通過(guò)電磁線圈產(chǎn)生的力與待測(cè)物體重力相互作用實(shí)現(xiàn)測(cè)量，精度可達(dá)0.1 mg（萬(wàn)分之一）至0.01 mg（十萬(wàn)分之一）,。其核心優(yōu)勢(shì)包括全自動(dòng)校準(zhǔn),、數(shù)字化顯示及多模式輸出（如RS232接口），適用于實(shí)驗(yàn)室,、工業(yè)生產(chǎn)和科研領(lǐng)域,。

二、分類與性能特點(diǎn)

按精度分類超微量天平：最大稱量2–5 g,，分辨率≤10??,，用于納米材料、藥物成分分析,。

常量天平：稱量范圍100–500 g,，分辨率0.1 mg,，適用于常規(guī)化學(xué)實(shí)驗(yàn)與工業(yè)質(zhì)檢。

按功能分類內(nèi)校型：內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼,，一鍵自動(dòng)校準(zhǔn),，減少人為誤差。

外校型：需手動(dòng)放置外部標(biāo)準(zhǔn)砝碼校準(zhǔn),，成本較低,。

三、操作與維護(hù)規(guī)范

操作流程預(yù)熱：通電預(yù)熱≥30分鐘,，確保傳感器穩(wěn)定性,。

校準(zhǔn)：使用前需進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)或全量程校準(zhǔn)（如加載標(biāo)準(zhǔn)砝碼）。

環(huán)境控制：溫度波動(dòng)≤1℃/h,，濕度50%–75%,，避免氣流和震動(dòng)干擾。

維護(hù)要點(diǎn)清潔：定期用軟布擦拭稱盤,，避免粉塵堆積影響精度,。

校準(zhǔn)周期：高頻使用場(chǎng)景建議每月校準(zhǔn)一次，低頻率使用每季度校準(zhǔn),。

四,、典型應(yīng)用場(chǎng)景

實(shí)驗(yàn)室研究：化學(xué)分析中精確稱量試劑（如0.01 mg級(jí)催化劑）。

藥物開(kāi)發(fā)中凍干粉稱重,，確保劑量一致性。

工業(yè)生產(chǎn)：鋰電池電極材料配比稱量,，誤差控制≤0.1%,。

貴金屬（如黃金、鉑金）加工中的質(zhì)量檢測(cè),。

五,、選型指南

參數(shù)匹配精度需求：半導(dǎo)體行業(yè)優(yōu)選0.01 mg級(jí)，食品檢測(cè)可選0.1 mg級(jí),。

量程范圍?：根據(jù)樣品重量選擇,，如礦石檢測(cè)需500 g以上量程天平。

功能擴(kuò)展需數(shù)據(jù)聯(lián)網(wǎng)時(shí),，選擇支持RS232或USB接口的型號(hào),。

腐蝕性環(huán)境（如化工實(shí)驗(yàn)室）優(yōu)先選用不銹鋼材質(zhì)或防腐涂層天平。