CS-NanoPALS高靈敏Zeta電位及粒度分析儀粒度測量采用動態(tài)光散射原理,，是一種準確,、快速、便捷的納米,、亞微米粒度分析測試儀器,。Zeta電位測量采用硬件PALS技術，與傳統(tǒng)基于頻移技術的光散射方法相比,，靈敏度可提高約1000倍，可適用于諸如低介電常數(shù),、 高粘度,、 高鹽濃度以及等電點附近這些測量條件下的樣品測量。

許多從事新材料,、生命科學,、環(huán)境工程等新興學科的研究人員長期以來苦于無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度,、高鹽濃度以及等電點附近這些測量條件下的樣品進行分析,，這是因為其電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的靈敏度進行測量,，CS-NanoPALS的出現(xiàn)為他們提供了準確可信的測量技術,。

簡單的計算即可說明硬件PALS技術的特性：

納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術（DLS），即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動,，使得光強隨時間產(chǎn)生脈動,。采用數(shù)字相關器技術處理脈沖信號，將光強的波動轉化為相關函數(shù),。自相關函數(shù)包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U散速度信息，進而利用Stokes-Einstein方程計算得出粒子的擴散系數(shù)和粒子粒徑R?及其分布：

主要特點：

1,、高功率半導體激光器：功率40mW,，波長640nm紅光激光器；

2,、高靈敏度檢測器：APD雪崩型二極管檢測器,；

3、表面Zeta電位測量：具有表面Zeta電位測量功能，可用于測量薄膜表面Zeta電位,；

4,、微流變測量：具有微流變測量功能，可通過顆粒運動分析（如均方位移MSD）表征復雜流體的流變特性,，包括粘度,、彈性模量G'及粘性模量G''，進行低粘性,、弱結構及高應變敏感樣品的粘彈性表征,；

5、在線檢測器功能：可作為在線檢測器與GPC/SEC連接,；

6,、高靈敏性：硬件PALS技術，靈敏度高約1000倍,，適用于高鹽濃度,、有機溶劑、油相體系,；

7,、強大的數(shù)據(jù)分析功能：軟件提供測試過程光強實時變化圖，并提供灰塵過濾功能,；可自動研究粒度隨時間,、溫度(蛋白熔點)以及其他參數(shù)變化的趨勢分析。

典型應用：

1,、脂質體,、生物膠體

2、陶瓷

3,、顏料,、油墨

4、醫(yī)藥

5,、乳劑（食品,、化妝品）

6、廢水處理

7,、膠乳

8,、炭黑