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FE-5000 精科智創(chuàng)PVDF薄膜材料鐵電測試儀

參考價 1588855
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準

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北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司是一家主要是從事精密儀器設(shè)備,,安全控制設(shè)備,,計量檢測設(shè)備,科學(xué)研究設(shè)備,,3D打印及空間技術(shù)的研發(fā)和銷售的 高科技公司,,我們將同國內(nèi)單位和高等院校合作,服務(wù)于國內(nèi)和國外廣大客 戶,,我們將提供更多優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品,,優(yōu)質(zhì)服務(wù),共同開拓進取,。

 

我們主要經(jīng)營的產(chǎn)品有:
1,、壓電材料測試儀:ZJ-3型d33測量儀,ZJ-4型壓電測試儀,,ZJ-5型積層壓電測試儀,,ZJ-6型d33d/d31/d15型準靜態(tài)系數(shù)測量儀

2、鐵電測試儀:ZT-4A型鐵電測試儀,,ZT-4C型鐵電測試儀,,JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)

3、介電測試儀:低溫介電測試儀,,高溫介電測試儀,,高低溫介電測試儀

4、熱電材料測試儀:熱電效應(yīng)測試儀

 

壓電測試儀,準靜態(tài)d33測量儀,,d33測量儀,,介電測量系統(tǒng),,壓電測量系統(tǒng),鐵電材料測試儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣

FE-5000型鐵電薄膜測試儀


精科智創(chuàng)PVDF薄膜材料鐵電測試儀

   FE-5000W型電致應(yīng)變鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置,,這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜,、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線,、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值,。可以進行電致應(yīng)變測試,可以蝴蝶曲線功能,,設(shè)備還可以擴展高溫電阻,,高溫介電,電容-電壓曲線,,TSC/TSDC等功能,。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的重要設(shè)備之一,,已經(jīng)在各大高校和科研院所廣泛使用,。

二、主要技術(shù)指標:

1,、輸出信號電壓::±5000V(可擴展10 kV,可擴展電致應(yīng)蝴蝶曲線功能

2,、溫度;室溫-200℃,,控溫精度:±1

3,、控制施加頻率0.01250KHz(陶瓷、單晶,,薄膜)PC端軟件控制自定義設(shè)置;

4,、控制輸出電流0到±50mA連續(xù)可調(diào),,PC端軟件控制自定義設(shè)置。

5,、動態(tài)電滯回線測試頻率范圍 0.01Hz-5kHz

7,、最小脈寬保持時間為20us;最小上升沿時間為10us;

8、疲勞測試頻率500kHz(振幅10 Vpp,,負載電容1 nF),;使用高壓放大器后疲勞頻率最高5kHz;

9測試速度:測量時間《5/樣品•溫度點   

10,、樣品規(guī)格:塊體材料尺寸:直徑2-100mm,,厚度0.1-10mm

11主要功能: 動態(tài)電滯回線DHM,,靜態(tài)電滯回線SHM,,I-V特性,,脈沖PUND,疲勞Fatigue,,電擊穿強度BDM,,漏電流LM,電流-偏壓,,保持力RM,,

10. 電荷解析度不小于10 mC;

漏電流測量范圍:1pA~ 20 mA,分辨率不低于0.1pA;

12,、控制方式:計算機實時控制,、實時顯示、實時數(shù)據(jù)計算,、分析與存儲

13,、軟件采集:自動采集軟件,分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件,。

14,、測試精度:±0.05%

15、內(nèi)置電壓:±20V

 

 

鐵電參數(shù)測試主要性能指標:

a. 外接5 kV高壓放大器,;

b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~ 1 kHz,;

c. 最大電荷解析度:10 mC;

d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,,負載電容1 nF),;

e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA,分辨率0.1 pA,;

f. 配有高壓擊穿保護模塊,。

本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器,、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針),、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器,、內(nèi)置驅(qū)動電壓,、電荷積分器、可編程放大器,、模數(shù)轉(zhuǎn)換器,、通訊總線等功能,主控器提供擴展外置高壓放大器接口,,可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器,。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,,無需改變測試樣品的連接,,即可實現(xiàn)滯回,,脈沖,漏電,,IV等性能測試,。

鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,,此電路取消了外接電容,,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),,容易定標和校準,并且能實現(xiàn)較高的測量準確度,。

該系統(tǒng)測試功能:

動態(tài)電滯回線DHM

I-V特性

脈沖PUND

疲勞Fatigue

漏電流LM

電流-偏壓,。




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